[發(fā)明專利]芯片測(cè)試方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010026866.5
• 申請(qǐng)日: 2020-01-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111190093A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-05-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡信偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海知白智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 濟(jì)南信達(dá)專利事務(wù)所有限公司 37100
• 代理人: 程佩玉

本發(fā)明提供了芯片測(cè)試方法及芯片測(cè)試裝置，方法包括：根據(jù)芯片的測(cè)試序列生成數(shù)據(jù)表格；所述數(shù)據(jù)表格中包括：至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的至少一個(gè)測(cè)試參數(shù)及其取值；設(shè)置功能程序；所述功能程序，包括：執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目的功能代碼及讀取所述數(shù)據(jù)表格的功能代碼；還包括：由所述功能程序利用讀取所述數(shù)據(jù)表格的功能代碼從所述數(shù)據(jù)表格中讀取所述至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)及其取值；根據(jù)讀取的所述至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)及其取值，由所述功能程序的功能代碼執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目。本發(fā)明能提高芯片測(cè)試的效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及芯片測(cè)試方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著科技的發(fā)展，手機(jī)成了我們生活中必不可少的工具。各種芯片是手機(jī)必不可少的組成部分。由于芯片制造的工藝復(fù)雜程度在不斷增加，且不同廠家不同設(shè)備的生產(chǎn)都存在差異，很可能導(dǎo)致生產(chǎn)出的芯片不合格。因此芯片從制造到出貨前需要對(duì)其進(jìn)行測(cè)試，保證出貨質(zhì)量。

如今，通過(guò)使用測(cè)試軟件來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試。在測(cè)試前通過(guò)在軟件中編程設(shè)置需要測(cè)試的指標(biāo)和參數(shù)范圍及各項(xiàng)指標(biāo)測(cè)試的順序。

然而，每次芯片相關(guān)指標(biāo)測(cè)試的要求并不是固定的，需要經(jīng)常進(jìn)行更改，然而調(diào)整測(cè)試指標(biāo)或者參數(shù)范圍需要重新在原有的測(cè)試軟件中進(jìn)行編程，非常不方便。因此，需要一種更便捷的方式來(lái)進(jìn)行芯片測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實(shí)施例提供了芯片測(cè)試方法及芯片測(cè)試裝置，能夠更便捷地進(jìn)行芯片測(cè)試。

第一方面，本發(fā)明實(shí)施例中提供了芯片測(cè)試方法，包括：

根據(jù)芯片的測(cè)試序列生成數(shù)據(jù)表格；所述數(shù)據(jù)表格中包括：至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的至少一個(gè)測(cè)試參數(shù)及其取值；

設(shè)置功能程序；所述功能程序，包括：執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目的功能代碼及讀取所述數(shù)據(jù)表格的功能代碼；

還包括：

由所述功能程序利用讀取所述數(shù)據(jù)表格的功能代碼從所述數(shù)據(jù)表格中讀取所述至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)及其取值；

根據(jù)讀取的所述至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目對(duì)應(yīng)的測(cè)試參數(shù)及其取值，由所述功能程序的功能代碼執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目。

優(yōu)選地，

所述生成數(shù)據(jù)表格包括：

生成EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均對(duì)應(yīng)所述至少一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目；且同一行中在不同列的位置對(duì)應(yīng)同一測(cè)試項(xiàng)目的不同測(cè)試參數(shù)及其取值；

根據(jù)所述芯片的測(cè)試全流程的步驟的順序，確定不同測(cè)試項(xiàng)目在所述EXCEL表格中所處的行的順序。

優(yōu)選地，

所述測(cè)試參數(shù)中包括：?jiǎn)⒂脴?biāo)志位；用于表示該測(cè)試項(xiàng)目是否需要被所述功能程序執(zhí)行；

則所述由所述功能程序的功能代碼執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目之前，進(jìn)一步包括：所述功能程序判斷當(dāng)前讀取的啟用標(biāo)志位的標(biāo)識(shí)是否為確定標(biāo)識(shí)，如果是，則繼續(xù)執(zhí)行所述由所述功能程序的功能代碼執(zhí)行測(cè)試項(xiàng)目，否則，所述功能程序不執(zhí)行該啟用標(biāo)志位對(duì)應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目，結(jié)束當(dāng)前流程；

優(yōu)選地，

所述測(cè)試參數(shù)包括：數(shù)據(jù)名稱，用于表述所述測(cè)試項(xiàng)目的名稱；

優(yōu)選地，

所述測(cè)試參數(shù)包括：最大值，用于表示所述測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試結(jié)果的最大允許值；

優(yōu)選地，

所述測(cè)試參數(shù)包括：最小值，用于表示所述測(cè)試項(xiàng)目測(cè)試結(jié)果的最小允許值；

優(yōu)選地，