[發明專利]芯片測試方法及裝置

在審

• 申請號: 202010026866.5
• 申請日: 2020-01-10
• 公開（公告）號: CN111190093A
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 胡信偉
• 申請（專利權）人: 上海知白智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司 37100
• 代理人: 程佩玉

1.芯片測試方法，其特征在于，包括：

根據芯片的測試序列生成數據表格；所述數據表格中包括：至少一個測試項目對應的至少一個測試參數及其取值；

設置功能程序；所述功能程序，包括：執行測試項目的功能代碼及讀取所述數據表格的功能代碼；

還包括：

由所述功能程序利用讀取所述數據表格的功能代碼從所述數據表格中讀取所述至少一個測試項目對應的測試參數及其取值；

根據讀取的所述至少一個測試項目對應的測試參數及其取值，由所述功能程序的功能代碼執行測試項目。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成數據表格包括：

生成EXCEL表格；

所述EXCEL表格中的每一行均對應所述至少一個測試項目中的一個測試項目；且同一行中在不同列的位置對應同一測試項目的不同測試參數及其取值；

根據所述芯片的測試全流程的步驟的順序，確定不同測試項目在所述EXCEL表格中所處的行的順序。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述測試參數中包括：啟用標志位；用于表示該測試項目是否需要被所述功能程序執行；

則所述由所述功能程序的功能代碼執行測試項目之前，進一步包括：所述功能程序判斷當前讀取的啟用標志位的標識是否為確定標識，如果是，則繼續執行所述由所述功能程序的功能代碼執行測試項目，否則，所述功能程序不執行該啟用標志位對應的測試項目，結束當前流程；

和/或，

所述測試參數包括：數據名稱，用于表述所述測試項目的名稱；

和/或，

所述測試參數包括：最大值，用于表示所述測試項目測試結果的最大允許值；

和/或，

所述測試參數包括：最小值，用于表示所述測試項目測試結果的最小允許值；

和/或，

所述測試參數包括：環境參數值，用于表示所述測試項目的測試環境參數值。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

所述測試參數中還包括：至少一個篩分標志，用于表示該測試項目的測試結果合格時芯片的目標落入位置；

所述根據讀取的所述至少一個測試項目對應的測試參數及其取值，由所述功能程序的功能代碼執行測試項目，包括：

所述功能程序根據當前已讀取的測試項目對應的至少一個測試參數及其取值，判斷測試結果是否合格，如果是，則控制所述目標芯片落入所述目標落入位置。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述由所述功能程序利用讀取所述數據表格的功能代碼從所述數據表格中讀取所述至少一個測試項目對應的測試參數及其取值，包括：

當所述功能程序讀取到所述數據表格中的任一個測試參數的字符串對應嵌套表格的標識時，則以讀取表格文件的方式讀取所述嵌套表格，并在從所述嵌套表格中嵌套讀取完數據后，繼續回到所述數據表格，繼續讀下一列的測試參數。

6.根據權利要求1-5中任一所述的方法，其特征在于，

進一步包括：在所述數據表格中搜索目標測試參數，并對搜索到的目標測試參數的取值進行修改。

7.芯片測試裝置，其特征在于，包括：數據表格獲取單元、功能程序獲取單元、讀取單元和執行單元；

所述數據表格獲取單元，用于獲取數據表格，所述數據表格是根據芯片的測試序列生成的；所述數據表格中包括：至少一個測試項目對應的至少一個測試參數及其取值；

所述功能程序獲取單元，用于獲取功能程序；所述功能程序包括：執行測試項目的功能代碼及讀取所述數據表格的功能代碼；

所述讀取單元，用于加載所述功能程序獲取單元所獲取的功能程序，由所述功能程序的讀取所述數據表格的功能代碼從所述數據表格獲取單元所獲取的所述數據表格中讀取所述至少一個測試項目對應的測試參數及其取值；

所述執行單元，用于加載所述功能程序獲取單元所獲取的功能程序，根據讀取的所述至少一個測試項目對應的測試參數及其取值，由所述功能程序的功能代碼執行測試項目。