[發明專利]芯片封裝方法和芯片封裝結構有效
| 申請號: | 202010024302.8 | 申請日: | 2020-01-09 |
| 公開(公告)號: | CN111192835B | 公開(公告)日: | 2021-10-19 |
| 發明(設計)人: | 鐘磊;李利 | 申請(專利權)人: | 甬矽電子(寧波)股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60;H01L23/488;H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 劉亞飛 |
| 地址: | 315400 浙江省寧*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 封裝 方法 結構 | ||
1.一種芯片封裝方法,其特征在于,用于對具有金屬墊的芯片進行封裝,所述芯片為聲表面波濾波芯片,所述方法包括:
提供具有凸臺與金屬柱的基板;
通過膠體將所述芯片的金屬墊貼裝于所述基板的凸臺,對設置于所述芯片的金屬墊與所述凸臺之間的膠體回流固化,使所述金屬柱與所述芯片線路連通,并在所述芯片與所述基板之間形成一空腔密閉結構;
其中,所述金屬墊作為芯片的引腳,用于墊高所述芯片的高度并連接接地電路;所述凸臺的高度低于所述金屬柱焊點的高度。
2.根據權利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,通過膠體將所述芯片的金屬墊貼裝于所述基板的凸臺的步驟包括:
在所述基板的凸臺的表面劃膠,以通過膠體將所述芯片的金屬墊貼裝于所述凸臺。
3.根據權利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述方法還包括制作所述基板的步驟,所述步驟包括:
在初始基板上設置第一金屬層,在所述第一金屬層上設置保護層;
在所述保護層上貼裝第一圖形保護層,以對設定區域進行保護;
按照預設深度對所述保護層進行蝕刻,以形成基板凸臺;
對所述第一金屬層進行蝕刻,以形成金屬柱。
4.根據權利要求3所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述對所述第一金屬層進行蝕刻,以形成所述金屬柱的步驟包括:
貼裝第二圖形保護層,對所述第一金屬層進行蝕刻,得到金屬柱生長點;
在所述金屬柱生長點上生長金屬柱,并在生長的金屬柱上鍍第二金屬層,通過點錫或刷錫,在鍍層后的金屬柱上形成焊點,得到所述金屬柱。
5.根據權利要求4所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述第一金屬層為銅層,所述第二金屬層為鎳金鍍層或鎳鈀金鍍層,所述保護層為聚丙烯板材。
6.根據權利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述方法還包括在所述芯片生成所述金屬墊的步驟,所述步驟包括:
在所述芯片表面上鍍第三金屬層,以生成所述金屬墊。
7.根據權利要求6所述的芯片封裝方法,其特征在于,所述第三金屬層為銅層、鎳金鍍層或鎳鈀金鍍層。
8.根據權利要求1所述的芯片封裝方法,其特征在于,在對設置于所述芯片的金屬墊與所述凸臺之間的膠體回流固化后,所述方法還包括:
基于塑封材料對回流固化后的芯片進行塑封。
9.一種芯片封裝結構,其特征在于,包括基板以及芯片,所述芯片為聲表面波濾波芯片;
所述基板上設置有至少一個凸臺以及至少一個金屬柱,所述芯片上設置有金屬墊;
所述芯片通過所述金屬墊設置于各所述凸臺上,以使各所述金屬柱與所述芯片線路連通,并在所述芯片與所述基板之間形成空腔密閉結構;
其中,所述金屬墊作為芯片的引腳,用于墊高所述芯片的高度并連接接地電路;所述凸臺的高度低于所述金屬柱焊點的高度。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





