[發明專利]測試床成熟度量化方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010020983.0
• 申請日: 2020-01-09
• 公開（公告）號: CN111260191B
• 公開（公告）日: 2023-10-10
• 發明（設計）人: 高馨;聶國健;葛智君;胡寧
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06Q10/0639
• 分類號: G06Q10/0639;G06Q50/04;G06F18/241
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王寧

1.一種測試床成熟度量化方法，其特征在于，所述方法應用于平臺型測試床的技術成熟度量化模型，所述技術成熟度量化模型包括四層架構，所述四層架構用于指示所述技術成熟度量化模型的一級量化指標；各層架構至少包括兩項能力，所述能力用于指示所述技術成熟度量化模型的二級量化指標；所述方法包括：

根據各所述二級量化指標的等級規則，確定各所述二級量化指標的等級；

根據各所述二級量化指標的等級和各所述二級量化指標對應的權重，確定各所述一級量化指標的量化值；

根據各所述一級量化指標的量化值和各所述一級量化指標對應的權重，確定所述平臺型測試床的技術成熟度量化值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根據各所述二級量化指標的等級規則，確定各所述二級量化指標的等級之前，還包括：

對各所述二級量化指標進行定性分析，得到各所述二級量化指標的等級規則；所述定性分析指的是對所述二級量化指標進行性能優化的分析。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，各所述二級量化指標對應的等級至少包括性能缺失等級、性能基礎等級、性能標準等級、性能提升等級和性能領軍等級。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據各所述二級量化指標的等級和各所述二級量化指標對應的權重，確定各所述一級量化指標的量化值，包括：

根據預設的二級指標等級量化表，確定各所述二級量化指標的等級對應的量化值；所述二級指標等級量化表包括各所述二級量化指標的等級和量化值之間的對應關系；

根據預設的二級指標權重信息表，獲取各所述二級量化指標對應的權重值；所述二級指標權重信息表包括各所述二級量化指標和權值之間的對應關系；

將各所述二級量化指標的量化值與各所述二級量化指標對應的權重值進行加權計算，得到各所述一級量化指標的量化值。

5.根據權利要求1或4所述的方法，其特征在于，所述根據各所述一級量化指標的量化值和各所述一級量化指標對應的權重，確定所述平臺型測試床的技術成熟度量化值，包括：

根據預設的一級指標權重信息表，獲取各所述一級量化指標對應的權重值；所述一級指標權重信息表包括各所述一級量化指標和權值之間的對應關系；

將各所述一級量化指標的量化值與各所述一級量化指標對應的權重值進行加權計算，得到所述平臺型測試床的技術成熟度量化值。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述平臺型測試床的技術成熟度量化值確定所述平臺型測試床的的成熟度等級；所述成熟度等級用于表征所述平臺型測試床的性能技術的成熟程度。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述平臺型測試床的技術成熟度量化模型的構建方法包括：

獲取平臺型測試床的一級量化指標；所述一級量化指標至少包括邊緣層、基礎設施層、應用層和平臺層；

根據所述技術成熟度量化目標，設定各所述一級量化指標對應的二級量化指標；每個所述一級量化指標至少包括兩個所述二級量化指標；所述二級量化指標至少包括數據采集、網絡連接、數據存儲、遠程操控；

根據各所述一級量化指標和對應的二級量化指標，構建所述平臺型測試床的技術成熟度量化模型。

8.一種測試床成熟度量化裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一確定模塊，用于根據各所述二級量化指標的等級規則，確定各所述二級量化指標的等級；

第二確定模塊，用于根據各所述二級量化指標的等級和各所述二級量化指標對應的權重，確定各所述一級量化指標的量化值；

第三確定模塊，用于根據各所述一級量化指標的量化值和各所述一級量化指標對應的權重，確定所述平臺型測試床的技術成熟度量化值。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求1至7中任一項所述方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。