[發明專利]半導體裝置和包括該半導體裝置的半導體系統

在審

• 申請號: 202010017886.6
• 申請日: 2020-01-08
• 公開（公告）號: CN111831486A
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發明（設計）人: 姜在龍
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G06F11/16
• 分類號: G06F11/16
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 許偉群;周曉雨

提供一種半導體裝置和包括該半導體裝置的半導體系統。根據實施例的半導體系統包括：半導體系統，其包括正常存儲單元陣列和用于修復正常存儲單元陣列內的存儲單元之中的缺陷單元的冗余存儲單元陣列，并被配置為將根據從冗余存儲單元陣列輸出的讀取數據中的故障位的數目所產生的故障標志輸出到外部；以及主機，其被配置為將與所述讀取數據相對應的地址儲存到多個寄存器組之中的選定的寄存器組中，所述選定的寄存器組與所述故障標志相匹配。

相關申請的交叉引用

本申請要求2019年4月15日向韓國知識產權局提交的申請號為10-2019-0043912的韓國專利申請的優先權，其公開內容通過引用整體合并于此。

技術領域

本公開的實施例的各種示例總體上涉及一種半導體電路，并且更具體地，涉及一種半導體裝置以及包括該半導體裝置的半導體系統。

背景技術

半導體裝置可以包括正常存儲單元陣列和冗余存儲單元陣列。

通過測試過程，半導體裝置可以檢測出不能使用的正常存儲單元(以下稱為缺陷單元)，并且可以將用于訪問所述缺陷單元的地址(以下稱為缺陷地址)儲存在單獨的儲存裝置中。

在冗余存儲單元之中，使用的可以是滿足特定條件的冗余存儲單元，例如，能夠進行錯誤校正碼(ECC)校正的條件。

由于冗余存儲單元具有替換正常存儲單元的重要作用，因此更相對有效地管理冗余存儲單元從而提升半導體裝置的可靠性和耐久性非常重要。

發明內容

在本公開的實施例中，一種半導體系統可以包括：半導體裝置，其包括正常存儲單元陣列和用于修復正常存儲單元陣列內的存儲單元之中的缺陷單元的冗余存儲單元陣列，并被配置為將根據從冗余存儲單元陣列輸出的讀取數據中的故障位的數目所產生的故障標志輸出到外部；以及主機，其被配置為將與所述讀取數據相對應的地址儲存到多個寄存器組之中的選定的寄存器組中，所述選定的寄存器組與所述故障標志相匹配。

在本公開的實施例中，一種半導體裝置可以包括：正常存儲單元陣列；冗余存儲單元陣列，其用于修復正常存儲單元陣列內的存儲單元之中的缺陷單元；故障信息控制電路，其被配置為產生與從冗余存儲單元陣列內的存儲單元輸出的讀取數據中的故障位的數目有關的信息；寄存器陣列，其包括多個寄存器組；以及測試電路，其被配置為將寫入數據儲存到冗余存儲單元陣列內的存儲單元中，被配置為控制冗余存儲單元陣列內的存儲單元以輸出所述讀取數據，并被配置為將與所述讀取數據相對應的地址儲存到所述多個寄存器組之中的選定的寄存器組中，所述多個寄存器組之中的所述選定的寄存器組對應于與所述讀取數據中的故障位的數目有關的信息。

附圖說明

結合附圖來描述特征、方面和實施例，其中：

圖1是示出根據本公開的實施例的半導體系統的配置的示例表示的圖；

圖2是示出圖1所示的寄存器陣列的配置的示例表示的圖；

圖3是示出圖1所示的故障信息控制電路的配置的示例表示的圖；

圖4是示出圖3所示的故障位計數器和計數信號校正電路的配置的示例表示的圖；

圖5是示出圖4所示的故障位計數器的操作的示例表示的時序圖；

圖6是示出根據本公開的實施例的故障標志輸出方案的示例表示的圖；

圖7是示出根據本公開的實施例的管理冗余存儲單元的方法的示例表示的流程圖；

圖8是示出圖7所示的冗余存儲單元陣列的后臺寫入和掃描的方法的示例表示的圖；

圖9是示出圖7所示的故障標志輸出方案的示例表示的圖；以及