[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置和包括該半導(dǎo)體裝置的半導(dǎo)體系統(tǒng)

在審

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• 申請日: 2020-01-08
• 公開（公告）號: CN111831486A
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 姜在龍
• 申請（專利權(quán)）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G06F11/16
• 分類號: G06F11/16
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363
• 代理人: 許偉群;周曉雨

1.一種半導(dǎo)體系統(tǒng)，包括：

半導(dǎo)體裝置，其包括正常存儲單元陣列和用于修復(fù)所述正常存儲單元陣列內(nèi)的存儲單元之中的缺陷單元的冗余存儲單元陣列，并被配置為將根據(jù)從所述冗余存儲單元陣列輸出的讀取數(shù)據(jù)中的故障位的數(shù)目所產(chǎn)生的故障標(biāo)志輸出到外部；和

主機(jī)，其被配置為將與所述讀取數(shù)據(jù)相對應(yīng)的地址儲存到多個(gè)寄存器組之中的選定的寄存器組中，所述多個(gè)寄存器組之中的所述選定的寄存器組與所述故障標(biāo)志相匹配。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，所述半導(dǎo)體裝置被配置為將所述故障標(biāo)志包括在突發(fā)長度中，所述突發(fā)長度通過多個(gè)數(shù)據(jù)輸入/輸出焊盤之中的數(shù)據(jù)輸入/輸出焊盤來輸出。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，

其中，所述半導(dǎo)體裝置被配置為將所述故障標(biāo)志包括在突發(fā)長度中，所述突發(fā)長度通過多個(gè)數(shù)據(jù)輸入/輸出焊盤之中的數(shù)據(jù)輸入/輸出焊盤來輸出，以及

其中，所述故障位的數(shù)目根據(jù)所述故障標(biāo)志被包括在所述突發(fā)長度中的順序而被不同地定義。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，所述半導(dǎo)體裝置被配置為通過經(jīng)由寫入數(shù)據(jù)與所述讀取數(shù)據(jù)之間的比較而對故障位的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)來產(chǎn)生計(jì)數(shù)信號，并且被配置為通過校正所述計(jì)數(shù)信號來產(chǎn)生校正計(jì)數(shù)信號。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，所述半導(dǎo)體裝置被配置為將所述校正計(jì)數(shù)信號作為所述故障標(biāo)志包括在通過多個(gè)數(shù)據(jù)輸入/輸出焊盤之中的數(shù)據(jù)輸入/輸出焊盤來輸出的突發(fā)長度中。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，通過將所述計(jì)數(shù)信號的多個(gè)位之中的除具有高電平的最高有效位之外的其余的位復(fù)位到低電平來產(chǎn)生所述校正計(jì)數(shù)信號。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，

其中，所述半導(dǎo)體裝置被配置為通過經(jīng)由寫入數(shù)據(jù)與所述讀取數(shù)據(jù)之間的比較而對故障位的數(shù)目進(jìn)行計(jì)數(shù)來產(chǎn)生計(jì)數(shù)信號，以及

其中，所述半導(dǎo)體裝置被配置為通過將所述計(jì)數(shù)信號的多個(gè)位之中的除具有高電平的最高有效位之外的其余的位復(fù)位到低電平來產(chǎn)生校正計(jì)數(shù)信號。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，所述半導(dǎo)體裝置還包括：

比較電路，其被配置為通過將寫入數(shù)據(jù)與所述讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行比較來產(chǎn)生比較結(jié)果信號；

故障位計(jì)數(shù)器，其被配置為通過對所述比較結(jié)果信號進(jìn)行計(jì)數(shù)來產(chǎn)生計(jì)數(shù)信號；和

計(jì)數(shù)信號校正電路，其被配置為將所述計(jì)數(shù)信號的多個(gè)位之中的除具有高電平的最高有效位之外的其余的位復(fù)位到低電平，并且被配置為將包括被復(fù)位的所述位的所述計(jì)數(shù)信號輸出為校正計(jì)數(shù)信號。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，

其中，所述主機(jī)被配置為：根據(jù)所述故障標(biāo)志，將與無故障位或最小數(shù)目的故障位相對應(yīng)的地址儲存到所述多個(gè)寄存器組的序列之中的第一寄存器組中，

其中，所述主機(jī)被配置為：根據(jù)所述故障標(biāo)志，將相比于所述第一寄存器組中所儲存的地址與相對更大數(shù)目的故障位相對應(yīng)的地址儲存到所述多個(gè)寄存器組的序列之中的所述第一寄存器組的后續(xù)的寄存器組中。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，所述主機(jī)被配置為：在修復(fù)所述正常存儲單元陣列內(nèi)的存儲單元時(shí)，優(yōu)先利用儲存在所述多個(gè)寄存器組的序列之中的第一寄存器組中的地址。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體系統(tǒng)，其中，所述故障標(biāo)志向所述主機(jī)指示從所述多個(gè)寄存器組中選擇哪個(gè)寄存器組來儲存與所述讀取數(shù)據(jù)中的故障位的數(shù)目相對應(yīng)的地址。