[發明專利]用于執行輻射兩步法測量的方法以及測量裝置

有效

• 申請號: 202010013649.2
• 申請日: 2020-01-07
• 公開（公告）號: CN111585668B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發明（設計）人: 文森特·阿巴迪;莫里茨·哈特內克;胡安-安琪兒·安東
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12;H04B7/0413
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;胡彬

1.一種用于對具有預定數量的天線(15)的被測設備(12)執行輻射兩步法測量的方法，包括以下步驟：

a)將所述被測設備(12)放置在定位器(20)上，

b)使用至少一個鏈路天線(22)建立與所述被測設備(12)的通信，

c)使用多個測量天線(24)測量所述被測設備(12)的天線方向圖，其中，所述多個測量天線(24)包括比所述被測設備(12)的天線(15)的數量更大數量的測量天線(24)。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述被測設備(12)被放置在電波暗室(18)內的定位器(20)上。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述多個測量天線(24)的測量天線(24)的數量至少是，特別地恰好是所述被測設備(12)的天線(15)的數量的兩倍。

4.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述多個測量天線(24)中的至少一個測量天線，特別是全部所述多個測量天線(24)是雙極化天線，其中一個雙極化天線計入測量天線(24)的數量是二。

5.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于以下步驟：

a)使用所述多個測量天線(24)的測量結果來生成信道矩陣，

b)對信道矩陣求逆，產生信道矩陣求逆的多于一個解，以及

c)選擇所述解中的一個解。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所選擇的解是具有最小歐幾里得范數的解。

7.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，所述被測設備(12)是能夠在450MHz和6000MHz的頻率范圍內進行通信的設備。

8.一種用于對被測設備(12)執行輻射兩步法測量的測量裝置，包括具有預定數量的天線(15)的被測設備(12)和測量系統(14)，其中，所述測量系統(14)包括：

定位器(20)，所述被測設備(12)附接到所述定位器(20)，

至少一個鏈路天線(22)，其用于與所述被測設備(12)建立通信，以及

多個測量天線(24)，其中所述多個測量天線(24)包括比所述被測設備(12)的天線(15)的數量更大數量的測量天線(24)。

9.根據權利要求8所述的測量裝置，其特征在于，所述多個測量天線(24)中的至少一個測量天線，特別是全部所述多個測量天線(24)是雙極化天線，其中，一個雙極化天線計入測量天線(24)的數量是二。

10.根據權利要求8或9所述的測量裝置，其特征在于，所述測量系統(14)包括電波暗室(18)，具有所述被測設備(12)的所述定位器(20)、所述至少一個鏈接天線(22)以及所述多個測量天線(24)中的至少一個測量天線被布置在所述電波暗室(18)中。

11.根據權利要求8到10中任一項所述的測量裝置，其特征在于，所述測量系統(14)包括控制單元(25)和/或第二階段設備(19)，其中所述控制單元(25)和/或所述第二階段設備(19)被配置成控制所述測量系統(14)執行根據權利要求1到7中任一項所述的方法。