[發(fā)明專利]用于執(zhí)行輻射兩步法測量的方法以及測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010013649.2
• 申請日: 2020-01-07
• 公開（公告）號: CN111585668B
• 公開（公告）日: 2022-11-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 文森特·阿巴迪;莫里茨·哈特內(nèi)克;胡安-安琪兒·安東
• 申請（專利權(quán)）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: H04B17/12
• 分類號: H04B17/12;H04B7/0413
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;胡彬

一種用于對具有預(yù)定數(shù)量的天線(15)的被測設(shè)備(12)執(zhí)行輻射兩步法測量的方法，具有以下步驟：a)將被測設(shè)備(12)放置在定位器(20)上，b)使用至少一個鏈路天線(22)建立與被測設(shè)備(12)的通信，c)使用多個測量天線(24)測量被測設(shè)備(12)的天線方向圖，其中，所述多個測量天線(24)包括比被測設(shè)備(12)的天線(15)的數(shù)量更大數(shù)量的測量天線(24)。此外，示出了測量裝置(10)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于對具有預(yù)定數(shù)量的天線的被測設(shè)備執(zhí)行輻射兩步法測量的方法以及用于對被測設(shè)備執(zhí)行輻射兩步法測量的測量裝置。

背景技術(shù)

對于多進多出(MIMO)測量，輻射兩步法(radiated two-stage，RTS)是已知的。在RTS的第一階段期間，測量被測設(shè)備的天線方向圖，并且基于天線方向圖生成用于第二階段的信道矩陣。

為了執(zhí)行第二階段，必須對信道矩陣求逆。然而，信道矩陣并不總是可逆的。這導(dǎo)致被測設(shè)備的不可測試性或者無結(jié)果的測試。在這些情況下，可以使用多探頭電波暗室(multiprobe anechoic chamber，MPAC)，從而導(dǎo)致額外的硬件成本。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明的目的是提供用于對被測設(shè)備執(zhí)行輻射兩步法測量的方法和測量裝置。

為此目的，提供了用于對具有預(yù)定數(shù)量的天線的被測設(shè)備執(zhí)行輻射兩步法測量的方法。該方法包括以下步驟：

a)將被測設(shè)備放置在定位器上，

b)使用至少一個鏈路天線建立與被測設(shè)備的通信，

c)使用多個測量天線來測量被測設(shè)備的天線方向圖，其中，多個測量天線包括比被測設(shè)備的天線數(shù)量更大的測量天線數(shù)量。

通過提供比被測設(shè)備具有的天線更多的測量天線，信道矩陣總是可逆的或至少是偽可逆的，因為方程系統(tǒng)由于額外天線的信息而是超定的。

在這種情況下，求逆可以是求偽逆，其不會對第二階段的測量結(jié)果產(chǎn)生不利影響。因此，提供了用于執(zhí)行輻射兩步法測量(例如，MIMO空中(OTA)測量)的非常有成本效益且簡單的解決方案。

用于建立通信的至少一個鏈路天線可以是測量系統(tǒng)的一部分，即不是被測設(shè)備的一部分。

在本發(fā)明的一個實施例中，被測設(shè)備被放置在電波暗室中的定位器上，從而提高了天線方向圖測量結(jié)果的準確性。

為了改進的結(jié)果，多個測量天線中的測量天線的數(shù)量至少是(特別地恰好是)被測設(shè)備的天線數(shù)量的兩倍。

在本發(fā)明的一個實施例中，多個測量天線中的至少一個測量天線(特別是所有的天線)都是雙極化天線，其中，一個雙極化天線計入測量天線的數(shù)量是二。這樣，裝置可以被簡化。

在另一個實施例中，該方法包括以下進一步的步驟：

a)使用多個測量天線的測量結(jié)果來生成信道矩陣，

b)對信道矩陣求逆，產(chǎn)生信道矩陣求逆的多于一個解，以及

c)選擇所述解中的一個解。

以此方式，可以確定性地執(zhí)行輻射兩步法的第二階段(即，階段二)。

為了簡化數(shù)值計算，可以選擇具有最小歐幾里得范數(shù)的求逆的解。

例如，被測設(shè)備是能夠在450MHz和6000MHz的頻率范圍內(nèi)進行通信的設(shè)備，使得可以高效地測試5G NR FR1設(shè)備。

特別地，被測設(shè)備的天線和多個測量天線被配置為在450MHz和6000MHz的頻率范圍中發(fā)射和接收信號。