[發明專利]基于亞波長光柵的異質集成垂直耦合器及其應用在審
| 申請號: | 202010010935.3 | 申請日: | 2020-01-06 |
| 公開(公告)號: | CN113075765A | 公開(公告)日: | 2021-07-06 |
| 發明(設計)人: | 趙佳;趙然;孫崇磊;徐曉 | 申請(專利權)人: | 山東大學 |
| 主分類號: | G02B6/122 | 分類號: | G02B6/122;G02B6/124;G02B6/12 |
| 代理公司: | 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219 | 代理人: | 趙龍群 |
| 地址: | 250199 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 波長 光柵 集成 垂直 耦合器 及其 應用 | ||
本發明涉及基于亞波長光柵的異質集成垂直耦合器及其應用,垂直耦合器包括絕熱拉錐波導,絕熱拉錐波導上設置有亞波長光柵;絕熱拉錐波導的寬度從始端到末端均勻減少,絕熱拉錐波導的兩個側邊對稱設置有亞波長光柵,亞波長光柵中光柵的長度由絕熱拉錐波導的始端到末端均勻增大;絕熱拉錐波導的長度為12.4?58.9μm。本發明結合了亞波長光柵的特性,優化了絕熱拉錐波導的耦合效果,使得耦合器的尺寸大大減少,并依然能保持97%以上的耦合率和100nm的帶寬。
技術領域
本發明涉及基于亞波長光柵的異質集成垂直耦合器及其應用,屬于垂直耦合器技術領域。
背景技術
硅晶絕緣體(Silicon-on-insulator,SOI)由于折射率差大,制備工藝與CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工藝兼容一直廣受學術界及工業屆的青睞,被廣泛應用于高密度光電集成線路。為了滿足日益增長的數據吞吐量及集成密度的需求,實現可擴展的、具有高成本效益的Si基光電集成線路,三維(Three-dimensional,3D)集成逐漸引起科學家的廣泛關注。
垂直光耦合器作為3D集成的關鍵器件,實現了多層平板光集成線路(Photonicintegrated circuits,PICs)之間的互連。垂直光耦合器的實現方式主要有絕熱拉錐波導,垂直聚合物光波導及懸臂耦合器。其中,絕熱拉錐波導由于耦合率高,制備簡單而展現出了廣闊的應用前景。但是,為了降低耦合損耗,波導必須滿足絕熱拉錐條件,因此器件尺寸較大。
以應用于硅基(Si)-鈮酸鋰(LiNO3,LN)混合集成光調制器中的垂直耦合器為例,鈮酸鋰晶體波導位于硅波導的上方,硅波導中的能量通過絕熱拉錐結構時耦合進入上方鈮酸鋰波導中,為了實現大于97%的耦合率,硅波導的拉錐長度高達150μm,如此大的尺寸不利于提高集成度。如果直接縮小拉錐波導的長度,耦合效率下降明顯,將不符合器件對耦合效率的要求。
發明內容
針對現有技術的不足,本發明提供了基于亞波長光柵的異質集成垂直耦合器及其應用,該垂直耦合器的尺寸大大減少,并能保持97%以上的耦合率,且對工藝制造誤差有較大的誤差容限。
術語說明:
亞波長光柵:subwavelength grating,SWG,光柵周期小于入射波長,對入射光只存在零級反射和衍射。
本發明的技術方案為:
基于亞波長光柵的異質集成垂直耦合器,所述垂直耦合器包括絕熱拉錐波導,所述絕熱拉錐波導上設置有亞波長光柵;所述絕熱拉錐波導的寬度從始端到末端逐漸減少,所述絕熱拉錐波導的兩個側邊對稱設置有亞波長光柵,所述亞波長光柵的長度由絕熱拉錐波導的始端到末端逐漸增大;所述絕熱拉錐波導的長度為12.4-58.9μm;
光在從絕熱拉錐波導的始端進入垂直耦合器,并在垂直耦合器中繼續傳輸;由于亞波長光柵等效為一個均勻材料波導,入射到亞波長光柵上的光,入射光電場極化方向平行于光柵周期界面方向,隨絕熱拉錐波導寬度減少,垂直耦合器的有效折射率逐漸減小,導致光由始端到末端進行傳輸并逐漸向上耦合到上層波導中,然后在上層波導中繼續進行傳輸。
絕熱拉錐波導層上設置亞波長光柵結構,根據等效介質理論,亞波長光柵等效為一個均勻材料波導,亞波長光柵的等效折射率介于絕熱拉錐波導和上層波導之間,降低了耦合器與待傳輸波導的折射率差,因而能縮小絕熱拉錐波導的長度。
根據本發明優選的,亞波長光柵的周期T為220-320nm,亞波長光柵的占空比為0.32-0.45;優選的,亞波長光柵的周期T為300nm,占空比為0.33。占空比即為亞波長光柵中相鄰狹縫之間的光柵塊的長度a與光柵周期T的比值。
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