[發(fā)明專利]LED芯片的制備方法及LED芯片在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010010157.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-01-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111063771A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡棄疾;楊建國(guó);郗萌;卜浩禮;楊天鵬;康建 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江西圓融光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/00 | 分類號(hào): | H01L33/00;H01L33/36 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 朱穎;臧建明 |
| 地址: | 337000 江西*** | 國(guó)省代碼: | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | led 芯片 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供一種LED芯片的制備方法及LED芯片。本發(fā)明實(shí)施例提供的LED芯片的制備方法,包括:在進(jìn)行臺(tái)面光刻后,以所述臺(tái)面光刻剩余的第一膠層為掩膜,對(duì)透明導(dǎo)電層進(jìn)行刻蝕,以使所述透明導(dǎo)電層與外延層的臺(tái)面邊緣之間形成間隙,去除所述第一膠層。本發(fā)明實(shí)施例提供的LED芯片的制備方法,通過將現(xiàn)有工藝中的TCL光刻與MESA光刻兩道工序合并成一道,以省去了一步光刻步驟以及一步去膠,提升了光刻車間和清洗車間的產(chǎn)能,降低了LED芯片的制造成本。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及芯片制造技術(shù),尤其涉及一種LED芯片的制備方法及LED芯片。
背景技術(shù)
隨著發(fā)光二極管(Light Emitting Diode,簡(jiǎn)稱LED)技術(shù)的發(fā)展,LED芯片已廣泛應(yīng)用于照明、指示、顯示和背光源中,半導(dǎo)體晶片的切割技術(shù)對(duì)生產(chǎn)出的LED芯片的亮度造成一定程度的影響。
現(xiàn)有技術(shù)中,正裝LED芯片光刻工藝有電流阻擋(Current B|ocMng Layer,簡(jiǎn)稱CBL)光刻、透明導(dǎo)電層(Transparent Conductive Layer,簡(jiǎn)稱TCL)光刻、臺(tái)面光刻(MESA光刻)、電極光刻(PAD光刻)、保護(hù)層光刻(PV光刻),而倒裝芯片工藝還包括ISO深刻蝕光刻、DBR光刻等。其中,MESA光刻是為了后續(xù)刻蝕出一個(gè)臺(tái)面,以露出N區(qū),而TCL光刻是為了后續(xù)的導(dǎo)電玻璃,即氧化銦錫(Indium Tin Oxide,簡(jiǎn)稱ITO)內(nèi)縮腐蝕,以防止ITO與MESA邊接觸引起漏電。具體的,在現(xiàn)有工藝的MESA光刻后,需要先去除光刻膠,然后,重新勻膠后,再繼續(xù)進(jìn)行TCL光刻。
可見,在現(xiàn)有工藝中,不論是正裝芯片還是倒裝芯片,MESA光刻和TCL光刻這兩步都是必須要做的,但是,由于現(xiàn)有工藝步驟流程復(fù)雜,進(jìn)而導(dǎo)致了LED芯片的制備成本較高的技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種LED芯片的制備方法及LED芯片,以降低工藝步驟復(fù)雜程度,從而降低了LED芯片的制造成本。
第一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供一種LED芯片的制備方法,包括:
在進(jìn)行臺(tái)面光刻后,以所述臺(tái)面光刻剩余的第一膠層為掩膜,對(duì)透明導(dǎo)電層進(jìn)行刻蝕,以使所述透明導(dǎo)電層與外延層的臺(tái)面邊緣之間形成間隙;
去除所述第一膠層。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述刻蝕采用濕法刻蝕。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,所述的LED芯片的制備方法,還包括:
對(duì)所述透明導(dǎo)電層進(jìn)行融合。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,在所述對(duì)所述透明導(dǎo)電層進(jìn)行融合之后,還包括:
在所述透明導(dǎo)電層上層積二氧化硅保護(hù)層。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,在所述透明導(dǎo)電層上層積二氧化硅保護(hù)層之后,還包括:
對(duì)所述二氧化硅保護(hù)層進(jìn)行光刻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,在所述對(duì)所述二氧化硅保護(hù)層進(jìn)行光刻之后,還包括:
在所述二氧化硅保護(hù)層上蒸鍍金屬電極。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,在所述二氧化硅保護(hù)層上蒸鍍金屬電極之后,還包括:
對(duì)所述金屬電極進(jìn)行金屬融合。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,在所述以所述臺(tái)面光刻剩余的第一膠層為掩膜,對(duì)透明導(dǎo)電層進(jìn)行刻蝕之前,還包括:
在所述外延層上蒸鍍所述透明導(dǎo)電層;
對(duì)所述透明導(dǎo)電層進(jìn)行所述臺(tái)面光刻。
在一種可能的設(shè)計(jì)中,在所述外延層上蒸鍍所述透明導(dǎo)電層之前,還包括:
對(duì)所述外延層進(jìn)行清洗。
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