[發明專利]一種熒光檢測儀器的校準方法

有效

• 申請號: 202010010067.9
• 申請日: 2020-01-06
• 公開（公告）號: CN111157499B
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 丁衛東;蘇四美
• 申請（專利權）人: 深圳市華科瑞科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京冠和權律師事務所 11399
• 代理人: 張楠楠

本發明提供了一種熒光檢測儀器的校準方法，該熒光檢測儀器的校準方法采用現有的經過計量確定的標準設備進行定標操作，以該定標操作保證具有標準可追溯性和確定性，其能適合大批量和精確測量和提高熒光檢測儀器在批量生產過程中的質量一致性，此外，該方法還可用于對熒光檢測儀器進行質控以及保證熒光檢測儀器性能參數的一致性。

技術領域

本發明涉及生物熒光檢測的技術領域，特別涉及一種熒光檢測儀器的校準方法。

背景技術

熒光檢測儀器主要是利用熒光物質在接收到某種波長的入射光照射，吸收光能后進入激發態，并且立即退激發并發出不同于入射光的的波長的出射光這一熒光特性，通過使用λ1波長的光線作為激發光并照射在熒光物質上，熒光物質會相應的激發形成λ2波長的發射光，再通過檢測λ2波長的發射光的強度，就能夠間接得到熒光物質標記的物質的含量，現有技術的熒光檢測儀器的操作過程如圖1所示。目前，熒光檢測儀器的定標是用固定含量熒光物質做為默認標準，放到熒光檢測儀器上測量。如果有多臺儀器要定標就用這一個固定熒光含量物質做為標準進行定標。這樣做的問題是固定含量熒光物質的熒光強度是不能固定的。因為熒光特性是照射之后或長時間放置后熒光物質會衰變，發射出去的光就會減弱，如果用來校準多臺儀器就會出問題，因為標準物質熒光強度已經變化了，這會給熒光檢測儀器的定標過程帶來不確定性，其會影響熒光檢測儀器的正常工作。

發明內容

針對現有技術存在的缺陷，本發明提供一種熒光檢測儀器的校準方法，該熒光檢測儀器的校準方法包括如下步驟：步驟S1，通過放置于該熒光檢測儀器原有試紙條位置的光強測量儀，對該熒光檢測儀器對應的激發光源器進行關于發光強度的第一校準處理，其中，該激發光源器的發光波長為λ1；步驟S2，通過放置于該熒光檢測儀器原有試紙條位置的標準光源，對該熒光檢測儀器對應的信號檢測器進行關于檢測精度的第二校準處理，其中，該標準光源的發光波長為λ2，且λ1不同于λ2；可見，該熒光檢測儀器的校準方法采用現有的經過計量確定的標準設備進行定標操作，以該定標操作保證具有標準可追溯性和確定性，其能適合大批量和精確測量和提高熒光檢測儀器在批量生產過程中的質量一致性，此外，該方法還可用于對熒光檢測儀器進行質控以及保證熒光檢測儀器性能參數的一致性。

本發明提供一種熒光檢測儀器的校準方法，其特征在于，所述熒光檢測儀器的校準方法包括如下步驟：

步驟S1，通過放置于所述熒光檢測儀器原有試紙條位置的光強測量儀，對所述熒光檢測儀器對應的激發光源器進行關于發光強度的第一校準處理，其中，所述激發光源器的發光波長為λ1；

步驟S2，通過放置于所述熒光檢測儀器原有試紙條位置的標準光源，對所述熒光檢測儀器對應的信號檢測器進行關于檢測精度的第二校準處理，其中，所述標準光源的發光波長為λ2，且λ1不同于λ2；

進一步，在所述步驟S1中，通過放置于所述熒光檢測儀器原有試紙條位置的光強測量儀，對所述熒光檢測儀器對應的激發光源器進行關于發光強度第一校準處理具體包括，

步驟S101，獲取關于所述熒光檢測儀器原有試紙條位置的第一屬性信息，并根據所述第一屬性信息，對所述光強測量儀進行第一布設操作；

步驟S102，根據所述第一布設操作的結果，獲取關于所述激發光源器位置的第二屬性信息；

步驟S103，根據所述第二屬性信息，調整所述激發光源器的發光工作模式，以實現所述關于發光強度的第一校準處理；

進一步，在所述步驟S101中，獲取關于所述熒光檢測儀器原有試紙條位置的第一屬性信息，并根據所述第一屬性信息，對所述光強測量儀進行第一布設操作具體包括，

步驟S1011，獲取關于所述熒光檢測儀器原有試紙條位置的位置區域面積數據和/或位置朝向數據，以作為所述第一屬性信息；

步驟S1012，獲取關于所述光強測量儀的受光區域面積數據和受光靈敏度數據；