[發(fā)明專利]用于檢查存儲(chǔ)器裝置的擦除階段的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201980096960.3 | 申請(qǐng)日： | 2019-05-31 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN113906508A | 公開（公告）日： | 2022-01-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | A·特羅亞;A·蒙代洛 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 美光科技公司 |
| 主分類號(hào)： | G11C7/04 | 分類號(hào)： | G11C7/04;G11C16/16;G11C16/26;G11C16/34 |
| 代理公司： | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人： | 王龍 |
| 地址： | 美國(guó)愛*** | 國(guó)省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 檢查 存儲(chǔ)器 裝置 擦除 階段 方法 | ||
1.一種包含至少一存儲(chǔ)器單元陣列與相關(guān)聯(lián)的解碼和感測(cè)電路系統(tǒng)和存儲(chǔ)器控制器的非易失性存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器陣列包括：
-多個(gè)存儲(chǔ)器塊；
-用于每個(gè)塊的至少一虛設(shè)行，所述虛設(shè)行位于每個(gè)塊的地址空間外部以用于存儲(chǔ)擦除階段的至少內(nèi)部塊變量和至少一已知模式。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器裝置，其中所述內(nèi)部塊變量包括在所述存儲(chǔ)器塊的所述擦除階段期間使用的參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器裝置，其中所述內(nèi)部塊變量包括在所述擦除階段期間施加到所述存儲(chǔ)器塊的擦除脈沖和/或目標(biāo)電壓。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器裝置，其被配置成從所述虛設(shè)行檢索前一擦除階段的內(nèi)部塊變量并且至少部分地基于所述檢索，開始所述存儲(chǔ)器塊上的擦除階段。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器塊含于所述存儲(chǔ)器組件的至少一子陣列中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器裝置，其中所述虛設(shè)行設(shè)置于另一塊中或設(shè)置于所述存儲(chǔ)器子陣列的專用存儲(chǔ)器部分中。
7.一種系統(tǒng)，其包含：
-主機(jī)裝置；
-非易失性存儲(chǔ)器裝置，其耦合到所述主機(jī)裝置并且包括至少一存儲(chǔ)器單元陣列與相關(guān)聯(lián)的解碼和感測(cè)電路系統(tǒng)和存儲(chǔ)器控制器；
-所述存儲(chǔ)器單元陣列中的多個(gè)存儲(chǔ)器塊；
-用于每個(gè)塊的至少一虛設(shè)行，所述虛設(shè)行位于每個(gè)塊的地址空間外部以用于存儲(chǔ)擦除階段的至少內(nèi)部塊變量和至少一已知模式。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中所述內(nèi)部塊變量包括在所述存儲(chǔ)器塊的所述擦除階段期間使用的參數(shù)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中所述內(nèi)部塊變量包括在所述擦除階段期間施加給所述存儲(chǔ)器塊的擦除脈沖和/或目標(biāo)電壓。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其被配置成從所述虛設(shè)行檢索前一擦除階段的內(nèi)部塊變量并且至少部分地基于所述檢索，開始所述存儲(chǔ)器塊上的所述擦除階段。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器塊含于所述存儲(chǔ)器組件的至少一子陣列中。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述虛設(shè)行設(shè)置于另一塊中或設(shè)置于所述存儲(chǔ)器子陣列的專用存儲(chǔ)器部分中。
13.一種用于檢查包含至少一存儲(chǔ)器單元陣列和相關(guān)聯(lián)解碼和感測(cè)電路系統(tǒng)和存儲(chǔ)器控制器的非易失性存儲(chǔ)器裝置的擦除操作的方法，所述方法包括：
-執(zhí)行存儲(chǔ)器塊的擦除階段；
-將所述擦除階段的至少內(nèi)部塊變量和至少一已知模式存儲(chǔ)于與所述存儲(chǔ)器塊相關(guān)聯(lián)的虛設(shè)行中。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其包含使所述虛設(shè)行的內(nèi)容無效。
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中所述內(nèi)部塊變量包括在所述存儲(chǔ)器塊的所述擦除階段期間使用的參數(shù)。
16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中所述內(nèi)部塊變量包括在所述擦除階段期間施加給所述存儲(chǔ)器塊的擦除脈沖和/或目標(biāo)電壓。
17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其另外包括從所述虛設(shè)行檢索前一擦除階段的內(nèi)部塊變量并且至少部分地基于所述檢索，開始所述存儲(chǔ)器塊的所述擦除階段。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中所述開始所述擦除階段包括在所述檢索不成功的情況下恢復(fù)所述塊。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于美光科技公司，未經(jīng)美光科技公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201980096960.3/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器
