[發明專利]基準標記確定裝置、基準標記確定方法

有效

• 申請號: 201980090419.1
• 申請日: 2019-02-19
• 公開（公告）號: CN113366935B
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 鈴木干也;小谷一也;橫井勇太
• 申請（專利權）人: 株式會社富士
• 主分類號: H05K13/08
• 分類號: H05K13/08
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 楊青;安翔

1.一種基準標記確定裝置，從形成于電路基板的多個形成部中確定基準標記，

所述基準標記確定裝置包含：

正式搜索區域設定部，基于一個以上形成部數據中的各形成部數據及標記數據，來以排除類似部的至少一部分的方式變更暫定搜索區域而設定正式搜索區域，其中所述暫定搜索區域是根據所述標記數據決定的搜索區域或者基準標記相機決定的拍攝區域而被暫定地設定于所述電路基板上的搜索區域，所述一個以上形成部數據是與位于所述暫定搜索區域的內部的一個以上所述形成部中的各形成部相關的數據，所述標記數據是與所述基準標記相關的數據，所述類似部是所述一個以上形成部中的位于所述暫定搜索區域的內部并且容易被誤判定為所述基準標記的形成部；及

標記判定部，判定所述電路基板上的位于由所述正式搜索區域設定部設定的所述正式搜索區域的內部的一個以上所述形成部中的各形成部是否為所述基準標記。

2.根據權利要求1所述的基準標記確定裝置，其中，

所述基準標記確定裝置包含：

形成部數據存儲部，存儲所述一個以上形成部數據；及

標記數據存儲部，存儲所述標記數據，

所述正式搜索區域設定部包含類似部檢測部，所述類似部檢測部基于存儲于所述形成部數據存儲部的所述一個以上所述形成部數據中的各形成部數據及存儲于所述標記數據存儲部的所述標記數據，來檢測位于所述暫定搜索區域的內部的一個以上所述形成部中的與所述基準標記類似的類似部，并且，所述正式搜索區域設定部以排除由所述類似部檢測部檢測出的所述類似部的至少一部分的方式變更所述暫定搜索區域來設定所述正式搜索區域。

3.根據權利要求2所述的基準標記確定裝置，其中，

所述形成部數據包含與各所述形成部的預定部分的尺寸相關的數據即形成部尺寸數據，

所述標記數據包含：與作為所述基準標記的預定部分的設定部分的尺寸相關的數據即標記尺寸數據；及表示所述基準標記的所述設定部分的尺寸的容許誤差的容許誤差數據，

所述類似部檢測部將一個以上所述形成部中的、所述形成部尺寸數據所表示的尺寸與所述標記尺寸數據所表示的尺寸之差的絕對值為所述容許誤差數據所表示的容許誤差以下的形成部檢測為所述類似部。

4.根據權利要求2所述的基準標記確定裝置，其中，

所述正式搜索區域設定部包含搜索區域縮小部，所述搜索區域縮小部以排除所述暫定搜索區域內所含的所述類似部的至少一部分的方式縮小所述暫定搜索區域。

5.根據權利要求3所述的基準標記確定裝置，其中，

所述正式搜索區域設定部包含搜索區域縮小部，所述搜索區域縮小部以排除所述暫定搜索區域內所含的所述類似部的至少一部分的方式縮小所述暫定搜索區域。

6.根據權利要求4所述的基準標記確定裝置，其中，

所述搜索區域縮小部減小所述暫定搜索區域的所述電路基板的寬度方向上的大小。

7.根據權利要求5所述的基準標記確定裝置，其中，

所述搜索區域縮小部減小所述暫定搜索區域的所述電路基板的寬度方向上的大小。

8.根據權利要求2～7中任一項所述的基準標記確定裝置，其中，

所述正式搜索區域設定部以排除所述暫定搜索區域內所含的所述類似部的至少一部分的方式變更所述暫定搜索區域的形狀。

9.根據權利要求2～7中任一項所述的基準標記確定裝置，其中，

所述正式搜索區域設定部以排除所述暫定搜索區域內所含的所述類似部的至少一部分的方式使所述暫定搜索區域移動。

10.根據權利要求1～7中任一項所述的基準標記確定裝置，其中，

所述形成部數據包含表示一個以上所述形成部分別是否具有孔的孔有無數據，

所述正式搜索區域設定部以不再包含所述暫定搜索區域內所含的一個以上所述形成部中的、基于所述孔有無數據而具有所述孔的形成部的至少一部分的方式變更所述暫定搜索區域。