[發(fā)明專利]處理腔室的耐腐蝕接地屏蔽件在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201980080531.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-05 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN113169114A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | D·盧博米爾斯基;賀小明;J·Y·孫;鄔笑煒;L·卡琳塔;S·樸 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 應(yīng)用材料公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/687 | 分類號(hào): | H01L21/687;H01L21/67;H01L21/02;H01L23/373 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 汪駿飛;侯穎媖 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 腐蝕 接地 屏蔽 | ||
1.一種處理腔室的接地屏蔽件,包含:
陶瓷主體,包含板和從所述板的上表面延伸的凸起邊緣,其中加熱器適配在所述板的所述上表面上的所述凸起邊緣內(nèi);
導(dǎo)電層,在所述板的至少所述上表面上;以及
第一保護(hù)層,在至少所述導(dǎo)電層上。
2.如權(quán)利要求1所述的接地屏蔽件,進(jìn)一步包含:
第二保護(hù)層,在所述第一保護(hù)層上,其中所述第二保護(hù)層是保形的,具有在大約50.00nm–2.00mm的厚度并具有小于0.1%的孔隙率。
3.如權(quán)利要求2所述的接地屏蔽件,其中所述第二保護(hù)層包含氧化釔、氧化鉺、氧化鉭、氟化釔、氧化鋁、氟化鋁、二氧化鋯、Y2O3-ZrO2固溶體、包含Y4Al2O9及Y2O3-ZrO2固溶體的材料或其組合中的至少一者。
4.如權(quán)利要求2所述的接地屏蔽件,其中所述凸起邊緣包含邊緣內(nèi)壁、邊緣上表面及邊緣外壁,且其中所述導(dǎo)電層、所述第一保護(hù)層或所述第二保護(hù)層中的至少一者進(jìn)一步覆蓋所述邊緣內(nèi)壁、所述邊緣上表面或所述邊緣外壁中的至少一者。
5.如權(quán)利要求1所述的接地屏蔽件,其中所述第一保護(hù)層包含氧化鋁、Y2SiO5、Y2Si2O7、Y5O4F7、鉭、碳化硅、氧化釔、氧化鉺、Y2O3-ZrO2固溶體、包含Y4Al2O9和Y2O3-ZrO2固溶體的材料或其組合中的至少一者。
6.如權(quán)利要求1所述的接地屏蔽件,其中所述陶瓷本體進(jìn)一步包含鉆入所述板中的多個(gè)孔,且其中所述多個(gè)孔中的一個(gè)或多個(gè)填充有導(dǎo)電塞。
7.如權(quán)利要求1所述的接地屏蔽件,其中所述陶瓷主體具有第一熱膨脹系數(shù)(CTE),且所述第一保護(hù)層具有第二CTE,其中所述第二CTE的值在所述第一CTE的2.5 10-6/℃內(nèi)。
8.一種處理腔室的基板支撐組件,包含:
加熱器;及
接地屏蔽件,包含盤(pán)形陶瓷主體和從所述盤(pán)形陶瓷主體的下表面延伸的軸,其中所述盤(pán)形陶瓷主體的上表面包含從所述盤(pán)形陶瓷主體的上表面延伸的凸起邊緣,且其中所述加熱器設(shè)置在所述凸起邊緣內(nèi)的所述盤(pán)形陶瓷主體的所述上表面上,所述接地屏蔽件進(jìn)一步包含:
導(dǎo)電層,在所述盤(pán)形陶瓷主體的至少所述上表面上;以及
第一保護(hù)層,在至少所述導(dǎo)電層上。
9.如權(quán)利要求8所述的基板支撐組件,進(jìn)一步包含第二保護(hù)層,在所述第一保護(hù)層上,其中所述第二保護(hù)層是保形層,具有大約50.00nm-2.00mm的厚度,具有小于0.1%的孔隙率,并包含氧化釔、氧化鉺、氧化鉭、氟化釔、氧化鋁、氟化鋁、二氧化鋯、Y2O3-ZrO2固溶體、包含Y4Al2O9及Y2O3-ZrO2固溶體的材料或其組合中的至少一者。
10.如權(quán)利要求9所述的基板支撐組件,其中所述凸起邊緣包含邊緣內(nèi)壁、邊緣上表面及邊緣外壁,且其中所述導(dǎo)電層、所述第一保護(hù)層或所述第二保護(hù)層中的至少一者進(jìn)一步覆蓋所述邊緣內(nèi)壁,所述邊緣表面或所述邊緣外壁中的至少一者。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





