[發(fā)明專利]增材制造在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980074232.2 | 申請日： | 2019-10-04 |
| 公開（公告）號： | CN112996651A | 公開（公告）日： | 2021-06-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 約瑟夫·格威廉·克拉布特里;康斯坦丁·里巴勒岑科;安德烈·加約 | 申請（專利權(quán)）人： | 增材制造技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | B29C64/30 | 分類號： | B29C64/30;B29C64/393;B29C64/40 |
| 代理公司： | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人： | 徐飛 |
| 地址： | 英國南*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 制造 | ||
本發(fā)明涉及一種自動加工增材制造的零件的系統(tǒng)(100)。所述系統(tǒng)包括：檢查模塊(120)，其用于確定與所述零件的表面光潔度質(zhì)量相關(guān)的至少一個零件參數(shù)；加工模塊(118)，其用于響應(yīng)于所述至少一個零件參數(shù)來加工所述零件的表面；以及控制器(102)，其配置為基于由所述檢查模塊確定的所述至少一個零件參數(shù)來修改由所述加工模塊執(zhí)行的表面精加工工藝的加工參數(shù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及增材制造，并且尤其但不是唯一地涉及增材制造的聚合物零件的自動化后處理。
背景技術(shù)
增材制造(Additive manufacturing,AM)是一種工藝，在此工藝中可以使用逐層方法從數(shù)字文件中制造物件，而無需使用模具用這種方法制造的物件通常需要后處理，包括磨平和著色。對于通常用于美學(xué)目的的AM聚合物零件尤其如此。但是，AM零件的后處理和檢查需要大量人工，因此目前占了傳統(tǒng)AM工序成本和時間的大部分。這為大規(guī)模采用工業(yè)增材制造構(gòu)成了障礙，并阻止了其與傳統(tǒng)的集中制造行業(yè)競爭。
發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的某些實施例的目的是提供一種用于使AM工藝從初始零件設(shè)計到后處理的AM零件的檢查完全自動化的系統(tǒng)和方法。
本發(fā)明的某些實施例的目的是提供一種模塊化的端到端自動化后處理制造系統(tǒng)和方法，用于使AM過程完全自動化，該方法和系統(tǒng)可以應(yīng)用于許多消費者和高價值企業(yè)，從而創(chuàng)造了靈活性并允許充分利用AM。
本發(fā)明的某些實施例的目的是提供一種用于使AM過程完全自動化的系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)和方法是可定制的，以在AM零件的后處理和檢查方面為用戶提供靈活性。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種用于自動加工增材制造的零件的系統(tǒng)，包括：
支撐去除模塊，用于從增材制造的零件中去除支撐材料；
檢查模塊，用于確定與所述零件的表面光潔度質(zhì)量相關(guān)的至少一個零件參數(shù)；
加工模塊，用于響應(yīng)于所述至少一個零件參數(shù)來加工所述零件的表面；以及
至少一個輸送機，用于將所述零件放置在所述支撐去除模塊中并在所述各個模塊之間移動所述零件。
有利地，本發(fā)明的第一方面的系統(tǒng)能夠提供全自動的AM工藝，從而提高系統(tǒng)生產(chǎn)量。
可選地，所述系統(tǒng)可以包括控制器，所述控制器配置為基于由所述檢查模塊確定的所述至少一個零件參數(shù)來修改由所述加工模塊執(zhí)行的表面精加工工藝的加工參數(shù)。
有利地，由于系統(tǒng)能夠自動分析并相應(yīng)地加工AM零件，因此可以大大減輕系統(tǒng)操作員的總負(fù)擔(dān)，從而可以提高產(chǎn)品的生產(chǎn)能力和質(zhì)量。這也使系統(tǒng)能夠自動生成有關(guān)每個AM零件的大量獨特的后處理信息集。此外，所述系統(tǒng)在處理和實施后處理步驟方面具有高度可控性和可定制性，因此更易于適應(yīng)各種類型的AM零件。
可選地，至少一個輸送機被構(gòu)造成將所述零件從增材制造設(shè)備移動到所述支撐去除模塊。
有利地，這減輕了在對零件進行后處理時給操作員帶來的負(fù)擔(dān)，從而有助于提高系統(tǒng)的生產(chǎn)率。
可選地，支撐去除設(shè)備包括至少一個脫粉模塊，以去除圍繞所述零件的未處理的支撐粉末。
可選地，至少一個脫粉模塊包括多個脫粉模塊，每個脫粉模塊被構(gòu)造用于從所述零件去除不同層級的粉末。
可選地，檢查模塊可以是光學(xué)檢查模塊。
可選地，檢查模塊可以是非接觸式光學(xué)檢查模塊。
有利地，這有助于減少檢查模塊在檢查過程中損壞AM零件的可能性。
可選地，脫粉模塊包括流化床反應(yīng)器。
有利地，該特征使得能夠有效地去除粗制粉。
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