[發(fā)明專利]用于在汽車應(yīng)用部署中執(zhí)行內(nèi)建自測的測試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201980072487.5
• 申請(qǐng)日: 2019-08-30
• 公開（公告）號(hào): CN112955761A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: A·卡爾娃;吳玨
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 輝達(dá)公司
• 主分類號(hào): G01R31/3185
• 分類號(hào): G01R31/3185;G06F13/00
• 代理公司: 北京市磐華律師事務(wù)所 11336
• 代理人: 高偉

在各個(gè)示例中，提供了一種用于根據(jù).JTAG和IEEE 1500在現(xiàn)場部署的芯片上執(zhí)行內(nèi)建自測(BIST)的測試系統(tǒng)。硬件和軟件選擇性地連接到IEEE 1500串行接口上，用于在芯片在部署中(例如在自動(dòng)駕駛汽車中)使用時(shí)運(yùn)行BIST。除了提供一種連接到串行接口上的機(jī)制之外，硬件和軟件還可以減少與運(yùn)行測試序列相關(guān)聯(lián)的內(nèi)存需求和運(yùn)行時(shí)間，從而使BIST在部署中成為可能。此外，一些實(shí)施例包括被配置為在運(yùn)行BIST之前存儲(chǔ)時(shí)鐘、電源和輸入/輸出的功能狀態(tài)的組件，這允許在BIST之后恢復(fù)功能狀態(tài)。

背景技術(shù)

制造商通常在部署之前對(duì)計(jì)算芯片進(jìn)行測試，以驗(yàn)證芯片是否正常運(yùn)行以及是否存在任何制造缺陷。例如，可以在部署之前通過使用自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)對(duì)芯片進(jìn)行測試。但是，一些芯片由于各種因素(例如，環(huán)境危害、老化等)會(huì)在部署后出現(xiàn)故障，并且在許多芯片應(yīng)用中，具有現(xiàn)場(in-field)故障檢測功能是非常重要的。例如，為了符合某些行業(yè)要求，諸如用于汽車部件(例如，支持汽車平臺(tái)的芯片)的ISO26262 ASIL-C要求，在芯片已部署在現(xiàn)場后識(shí)別芯片上的潛在故障是必要的。在一些實(shí)例中，這些芯片可以包括根據(jù)聯(lián)合測試行動(dòng)組(JTAG)標(biāo)準(zhǔn)和針對(duì)嵌入式核心測試的電氣與電子工程師協(xié)會(huì)(IEEE)1500標(biāo)準(zhǔn)(IEEE 1500SECT，或者簡稱為IEEE 1500)兩者配置的芯片架構(gòu)。例如，這些芯片可以被組織成IEEE 1500集群，并且每個(gè)集群可以包括分區(qū)。每個(gè)分區(qū)可以包括JTAG寄存器，這些JTAG寄存器在整個(gè)分區(qū)中以串行方式菊鏈?zhǔn)?daisy)鏈接，并在整個(gè)芯片中以更高級(jí)別菊鏈?zhǔn)芥溄印?/p>

盡管常規(guī)系統(tǒng)將JTAG與IEEE 1500集成在一起，但是這些系統(tǒng)不支持內(nèi)建自測(BIST)功能，或者它們需要大型存儲(chǔ)、龐大的運(yùn)行時(shí)間或者兩者兼而有之，這使得BIST在實(shí)時(shí)部署方案中效率較低。例如，在一些常規(guī)系統(tǒng)中，依靠ATE來及時(shí)識(shí)別潛在故障(例如，在將芯片部署到汽車平臺(tái)的現(xiàn)場后發(fā)生的故障)是無效的，因?yàn)樗枰脩魮碛蠥TE或者將芯片從使用中取出到具有芯片專用測試儀的設(shè)施。其他常規(guī)系統(tǒng)可以使用BIST或者BIST和ATE的組合來執(zhí)行；但是，這些系統(tǒng)需要大型存儲(chǔ)，并且執(zhí)行速度相對(duì)較慢。也就是說，單個(gè)JTAG鏈測試序列可以是數(shù)千個(gè)位，并且必須對(duì)許多JTAG寄存器進(jìn)行編程以運(yùn)行測試。因此，測試序列會(huì)非常大，從而需要大型存儲(chǔ)。此外，JTAG寄存器的時(shí)鐘相對(duì)較慢(例如，每個(gè)周期訪問一個(gè)位)，當(dāng)測試序列較大時(shí)，這將導(dǎo)致較長的運(yùn)行時(shí)間—從而導(dǎo)致在部署中將芯片從操作中移除一段對(duì)系統(tǒng)有害的時(shí)間。

這些常規(guī)系統(tǒng)除了上述那些之外還存在其他缺點(diǎn)。例如，BIST在已經(jīng)配置了時(shí)鐘、電源和I/O狀態(tài)的系統(tǒng)中執(zhí)行；但是，這些有效功能狀態(tài)在邏輯內(nèi)建自測(LBIST)掃描操作期間可能會(huì)被損壞，這可能會(huì)影響與BIST分離的操作。在其他操作中，對(duì)JTAG/IEEE 1500接口的現(xiàn)有控制不允許跳過狀態(tài)機(jī)的某些狀態(tài)(即使該狀態(tài)對(duì)于給定操作不是必需的)，從而導(dǎo)致不必要的循環(huán)。此外，在一些常規(guī)系統(tǒng)中，可以用相同的JTAG測試序列配置多個(gè)JTAG寄存器，在這種情況下，會(huì)存儲(chǔ)同一JTAG測試序列的多個(gè)副本，這導(dǎo)致僅用于存儲(chǔ)同一序列的副本的更大的內(nèi)存需求。

發(fā)明內(nèi)容