[發明專利]用于在汽車應用部署中執行內建自測的測試系統

在審

• 申請號: 201980072487.5
• 申請日: 2019-08-30
• 公開（公告）號: CN112955761A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發明（設計）人: A·卡爾娃;吳玨
• 申請（專利權）人: 輝達公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185;G06F13/00
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 高偉

1.一種測試系統，包括：

測試序列寄存器，其包括多個位子集，并形成用于接收測試序列的串行輸入的路徑；

指令寄存器，用于控制所述串行輸入到所述測試序列寄存器的傳輸；

控制寄存器，用于通過接收包括所述多個位子集中的位子集的第一子集標識符的第一數據集，來對所述指令寄存器進行編程；

配置寄存器，用于通過接收和傳送包括所述位子集的第二子集標識符的第二數據集，來對所述指令寄存器進行編程；以及

數據寄存器，用于接收要寫入到所述串行輸入中的所述測試序列。

2.根據權利要求1所述的測試系統，還包括另一寄存器，用于通過接收指定所述位子集的一個或更多個位以保留預定義的復位值的跳過位指令，來對所述測試序列寄存器進行編程。

3.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述第一數據集、所述第二數據集、或者所述第一數據集和所述第二數據集兩者包括突發模式指令，所述突發模式指令將所述指令寄存器編程為將位作為串行輸入來循環返回到所述路徑中，其中當將所述測試序列傳輸到掃描路徑中時，所述位在所述測試序列寄存器中，而不在所述位子集中。

4.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述第一數據集、所述第二數據集、或者所述第一數據集和所述第二數據集包括自動遞增指令，所述自動遞增指令將所述指令寄存器編程為以與所述位子集相同的方式控制另一個位子集的串行輸入，并且其中所述另一個位子集在所述測試序列中連續地跟隨在所述位子集之后。

5.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試序列寄存器被配置為串行輸出測試結果，所述測試結果被移位到所述數據寄存器中。

6.根據權利要求1所述的測試系統，還包括訪問控制應用，其被配置為控制對所述數據寄存器和外部自動測試設備之間的所述測試序列寄存器的訪問。

7.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試序列寄存器在芯片上，并且其中所述測試系統還包括在所述芯片上的測試序列檢索應用，其被配置為從片上存儲器中檢索所述測試序列。

8.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試序列寄存器在芯片上，并且其中所述測試系統還包括在所述芯片外維護的測試序列檢索應用，其被配置為從片外外部存儲器中檢索所述測試序列，并將所述測試序列加載到片上存儲器中。

9.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試序列包括功能值恢復指令，其被配置為在運行邏輯內建自測(LBIST)之前通過以下方式捕獲時鐘、電源和I/O的功能值：

在有限狀態機(FSM)的捕獲數據寄存器步驟期間，所述有限狀態機控制對掃描路徑的訪問，在VALS JTAG寄存器中的數據鏈中捕獲所述功能值；

在所述FSM的移位數據寄存器階段期間，移位所述VALS JTAG寄存器中的所述數據鏈；

在更新數據寄存器步驟中，在所述VALS JTAG寄存器的更新鎖存器中捕獲所述功能值；

在將所述VALS JTAG寄存器編程之后，將MASK JTAG寄存器中的所有位設置為公共值。

10.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試序列寄存器是第一測試序列寄存器，并且所述系統還包括：第一芯片分區，其包括所述第一測試序列寄存器；以及第二芯片分區，其與所述第一芯片分區菊鏈式鏈接，并包括第二測試序列寄存器，其中：所述第一測試序列寄存器和所述第二測試序列寄存器均被配置為接收所述測試序列的廣播輸入，以運行邏輯內建自測(LBIST)；所述第一芯片分區和所述第二芯片分區中每一個都包括各自的掩碼寄存器，當捕獲時鐘、電源和I/O狀態的功能值時，所述掩碼寄存器的所有位在運行所述邏輯內建自測之前都變為公共值；所述第一分區的第一掩碼寄存器的位的第一數量大于所述第二分區的第二掩碼寄存器的位的第二數量；提供給所述第一芯片分區和所述第二芯片分區兩者的廣播輸入包括的公共值的數量等于所述第一數量。