[發明專利]用于確定測量面的相對反射率的方法

在審

• 申請號: 201980065459.0
• 申請日: 2019-09-30
• 公開（公告）號: CN112930475A
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: G·伯爾尼;P·肖特爾;A·海姆斯特;P·尼茨
• 申請（專利權）人: 弗勞恩霍夫應用研究促進協會
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 南毅寧

本發明涉及一種用于確定測量面的相對反射率的方法，包括以下方法步驟：A.向測量面施加測量輻射，使得在測量面上產生測量斑，B.根據第一軌跡運動，使測量斑在測量面上至少沿著為直線的第一測量斑軌跡運動，C.在根據步驟B的第一軌跡運動期間，拍攝測量面的多個位置分辨圖像的第一圖像集，以及D.確定測量面的多個位置點的相對反射率。本發明的特征在于，在方法步驟B中，在第二軌跡運動中，測量斑在測量面上還至少沿著不平行于第一測量設置軌跡的為直線的第二測量軌跡運動，使得在第一軌跡運動期間測量掃過的測量面的第一測量軌跡區域至少與在第二軌跡運動期間被測量斑掃過的測量面的第二測量軌跡區域重疊，在方法步驟C中，在根據步驟B的第二軌跡運動期間拍攝測量面的多個位置分辨圖像的第二圖像集，并且在方法步驟D中，在交點上進行評估，交點在測量面上的位置點由評估線限定，其中預先給定和/或確定在第一測量軌跡區域內的第一組直線評估線和在第二測量軌跡區域內的至少第二組直線評估線，其中這些組具有至少兩條彼此間隔的評估線，第一組中的評估線平行于第一測量斑軌跡，并且第二組中的評估線平行于第二測量斑軌跡，并且第一組中的每條評估線與第二組中的每條評估線相交，其中對于每個圖像集，在每種情況下分別至少針對每個交點確定最大灰度值，并且在方法步驟D中，根據這些灰度值至少在交點的子集上確定測量面的相對反射率。

技術領域

本發明涉及一種根據方案1的用于確定測量面的相對反射率的方法。

背景技術

對于許多應用來說，期望以空間分辨的方式確定測量面的反射率。可以在建筑中找到用于測量外立面的反射的應用示例，尤其是太陽輻射的反射。同樣，期望測量內部空間中的反射率，尤其是墻壁和內部區域中的其它大面積建筑結構對象的反射率。此外，在科學領域中存在用于測量平面樣品的反射率的應用。這包括針對例如植物或其它生物對象的靜態樣品和動態樣品。

此外，確定太陽能熱塔發電站中的輻射接收器的反射率也是必要的：為了利用太陽能，已知借助多個反射器將太陽輻射聚集到一個輻射接收器上。在太陽能熱塔發電站中，入射的太陽輻射借助構造為定日鏡的反射器被集中到輻射接收器上。為了確定輻射接收器的質量、為了檢測輻射接收器在運行期間的缺陷以及為了優化對陽光的使用，對輻射接收器的吸收面的反射率進行空間分辨測量是期望的：由DE 10 2016 119 000 A1公知了一種太陽能熱塔發電站和一種用于對塔發電站的定日鏡進行定向的校準方法。由DE 10 2016226 033 A1公知了一種用于確定太陽能熱塔發電站的輻射接收器的吸收面的相對反射率的方法。在此，借助定日鏡使光斑在輻射接收器上運動。在該運動期間，借助攝像頭拍攝多個空間分辨圖像。輻射接收器的吸收面被劃分為多個截面，并且對于每個截面，基于來自攝像頭的圖像確定最大灰度值。根據最大灰度值，每個節段被分配相對反射率。

發明內容

本發明的目標在于，能夠實現相比于現有技術更快的相對反射率的確定或具有更高的空間分辨率的確定。

該目標通過根據方案1的用于確定測量面的相對反射率的方法來實現。有利的實施方式可以在從屬方案中得到。

根據本發明的用于確定測量面的相對反射率的方法包括以下方法步驟：

在方法步驟A中，向測量面施加測量輻射，使得在測量面上產生測量斑。在方法步驟B中，根據第一軌跡運動，使測量斑沿至少一個為直線的第一測量斑軌跡運動。在方法步驟C中，在根據步驟B的第一軌跡運動期間拍攝測量面的多個空間分辨圖像的第一圖像集，并且在方法步驟D中，確定測量面的多個位置點的相對反射率。

如在上述由現有技術已知的方法中那樣，由此，測量斑在測量面上運動，并且在該軌跡運動期間拍攝測量面的多個空間分辨圖像。

重要的是，在根據本發明的方法中，在方法步驟B中，在第二軌跡運動中，測量斑還至少沿著不平行于第一測量斑軌跡的為直線的第二測量斑軌跡運動，使得在第一軌跡運動期間被測量斑掃過的測量面的第一測量軌跡區域至少與在第二軌跡運動期間被測量斑掃過的測量面的第二測量軌跡區域重疊。