[發明專利]用于確定測量面的相對反射率的方法

在審

• 申請號: 201980065459.0
• 申請日: 2019-09-30
• 公開（公告）號: CN112930475A
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: G·伯爾尼;P·肖特爾;A·海姆斯特;P·尼茨
• 申請（專利權）人: 弗勞恩霍夫應用研究促進協會
• 主分類號: G01N21/55
• 分類號: G01N21/55
• 代理公司: 北京英創嘉友知識產權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 南毅寧

1.一種用于確定測量面(6)的相對反射率的方法，所述方法包括以下方法步驟：

A.向所述測量面(6)施加測量輻射，使得在所述測量面(6)上產生測量斑(7a、7b)，

B.根據第一軌跡運動，使所述測量斑在所述測量面(6)上沿著至少一個為直線的第一測量斑軌跡(8a)運動，

C.在根據步驟B的所述第一軌跡運動期間，拍攝所述測量面(6)的多個空間分辨圖像的第一圖像集，以及

D.確定所述測量面(6)的多個位置點的相對反射率，其特征在于，

在方法步驟B中，在第二軌跡運動中，所述測量斑(7a、7b)在所述測量面(6)上還至少沿著不平行于所述第一測量斑軌跡(8a)的為直線的第二測量斑軌跡(8b)運動，使得在所述第一軌跡運動期間被所述測量斑(7a、7b)掃過的所述測量面(6)的第一測量軌跡區域至少與在所述第二軌跡運動期間被所述測量斑(7a、7b)掃過的所述測量面(6)的第二測量軌跡區域重疊，使得在方法步驟C中，在根據步驟B的所述第二軌跡運動期間拍攝所述測量面(6)的多個空間分辨圖像的第二圖像集，并且

在方法步驟D中，在交點上進行評估，所述交點在所述測量面(6)上的位置由評估線(10a、10b)限定，其中，預先給定和/或確定在所述第一測量軌跡區域內的第一組直線評估線和在所述第二測量軌跡區域內的至少第二組直線評估線，其中，至少所述第一組直線評估線具有至少兩條彼此間隔的評估線，所述第一組直線評估線中的評估線平行于所述第一測量斑軌跡，并且所述第二組直線評估線中的一條或多條評估線平行于所述第二測量斑軌跡，并且所述第一組直線評估線中的每條評估線與所述第二組直線評估線中的至少一條評估線相交，

其中，對于每個圖像集，分別至少針對每個交點確定最大灰度值，并且

在方法步驟D中，根據所述最大灰度值至少在所述交點的子集上確定所述測量面(6)的相對反射率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，預先給定所述測量面(6)上的所述交點的位置。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，從所述空間分辨所述圖像中確定至少一條軌跡運動、優選兩條軌跡運動的走向，尤其是相對于所述軌跡運動的走向預先給定所述評估線的走向。

4.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，每組評估線(10a、10b)具有至少5條、尤其至少10條、優選至少50條評估線(10a、10b)。

5.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，每個圖像集的所述圖像分別從相同的拍攝位置被拍攝，尤其是所述第一圖像集的圖像和所述第二圖像集的圖像的拍攝位置是相同的。

6.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，借助攝像頭(3)拍攝所述圖像集的圖像，并且在拍攝所述圖像之前對所述攝像頭(3)的圖像傳感器進行圖像傳感器校準，尤其是進行暗圖像校正和/或白圖像校正。

7.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，使用反射器作為用于對所述測量面(6)施加測量輻射的源，尤其是能夠相對于所述測量面(6)旋轉的、優選能夠圍繞多個軸線旋轉的反射器。

8.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，使用輪廓輻射器作為所述測量輻射的源。

9.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，使用激光器作為所述測量輻射的源，尤其是借助于所述激光器產生的激光射束借助于光學擴展元件被擴展，尤其是被擴展成線分布。

10.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，用于產生所述測量輻射的光源相對于所述測量面(6)運動。

11.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，對至少兩個不同的拍攝位置執行方法步驟A至D，并且在總體評估中針對交點的至少一個子集確定取決于角度的相對反射率。

12.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其特征在于，借助于所述方法確定太陽能塔的、尤其借助于定日鏡被施加輻射的太陽能塔的吸收面的相對反射率。