[發(fā)明專利]基板處理裝置、溫度控制系統(tǒng)以及半導(dǎo)體裝置的制造方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980060431.8 | 申請日: | 2019-09-17 |
| 公開(公告)號: | CN112689887A | 公開(公告)日: | 2021-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 赤尾德信;村田等;田中昭典;上野正昭 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社國際電氣 |
| 主分類號: | H01L21/31 | 分類號: | H01L21/31;C23C16/46;H01L21/318 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蘊;杜嘉璐 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 處理 裝置 溫度 控制系統(tǒng) 以及 半導(dǎo)體 制造 方法 | ||
1.一種基板處理裝置,其特征在于,具備:
基板保持件,其在載置有基板的狀態(tài)下插入處理室;
旋轉(zhuǎn)機構(gòu),其使所述基板保持件旋轉(zhuǎn);
基板溫度傳感器,其在所述基板保持件旋轉(zhuǎn)時與所述基板同樣地旋轉(zhuǎn),并且測量所述基板的溫度;
發(fā)送機,其在所述處理室的外側(cè)與所述基板溫度傳感器連接,且構(gòu)成為與所述基板同樣地旋轉(zhuǎn);
接收機,其接收從所述發(fā)送機輸出的信號;以及
控制器,其與該接收機連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其特征在于,
構(gòu)成為,包含所述基板溫度傳感器、所述基板保持件、所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)、所述發(fā)送機的旋轉(zhuǎn)部一體地旋轉(zhuǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其特征在于,
所述基板溫度傳感器的電纜設(shè)置成沿著所述基板保持件的支柱。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其特征在于,
所述基板溫度傳感器的電纜設(shè)置成布置于所述基板保持件的支柱內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基板處理裝置,其特征在于,
引出到所述基板保持件的下部的電纜穿過所述旋轉(zhuǎn)機構(gòu)與所述發(fā)送機連接,
構(gòu)成為,所述發(fā)送機對輸入的電信號進行數(shù)字變換,并搭載于電波通過無線傳輸發(fā)送到所述接收機。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基板處理裝置,其特征在于,
在與所述處理室相鄰的搬送室設(shè)有所述接收機,
構(gòu)成為,所述接收機接收所述發(fā)送機發(fā)出的數(shù)字信號,并將接收到的所述數(shù)字信號變換成模擬信號輸出。
7.根據(jù)權(quán)利要求1~4中任一項所述的基板處理裝置,其特征在于,
還具有在內(nèi)部具有所述基板溫度傳感器的保護管,
所述保護管設(shè)于所述基板保持件的支柱的附近。
8.根據(jù)權(quán)利要求1~4中任一項所述的基板處理裝置,其特征在于,
還具有保護所述基板溫度傳感器的保護管,
構(gòu)成為,所述保護管至少設(shè)置于設(shè)于所述基板保持件的頂板以及底板的切口。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基板處理裝置,其特征在于,
設(shè)有對引出到所述基板保持件的下端部的電纜進行導(dǎo)向的筒部。
10.一種溫度控制系統(tǒng),其特征在于,具備:
基板溫度傳感器,其在載置有基板的狀態(tài)下插入處理室的基板保持件旋轉(zhuǎn)時與所述基板旋轉(zhuǎn),并且測量所述基板的溫度;
發(fā)送機,其在所述處理室的外側(cè)與所述基板溫度傳感器連接,且構(gòu)成為與所述基板同樣地旋轉(zhuǎn);
接收機,其接收從所述發(fā)送機輸出的信號;以及
控制器,其基于由所述接收機接收到的信號控制所述處理室的溫度。
11.一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,其特征在于,包括:
將保持有多張基板的基板保持件搬入處理室的工序;以及
通過基板溫度傳感器、發(fā)送機、接收機以及控制器,一邊控制所述處理室的溫度,一邊對所述基板進行處理的工序,上述基板溫度傳感器在所述基板保持件旋轉(zhuǎn)時與所述基板旋轉(zhuǎn),并且測量所述基板的溫度,所述發(fā)送機在所述處理室的外側(cè)與所述基板溫度傳感器連接,且構(gòu)成為與所述基板同樣地旋轉(zhuǎn),所述接收機接收從所述發(fā)送機輸出的信號,所述控制器基于由所述接收機接收到的信號控制所述處理室的溫度。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





