[發明專利]X射線裝置

在審

• 申請號: 201980054925.5
• 申請日: 2019-06-25
• 公開（公告）號: CN112602381A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 浦田朋晃
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H05G1/26
• 分類號: H05G1/26;A61B6/00;H05G1/34
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

管理裝置(70)具備：消耗程度檢測部(72)，其根據對發射器施加的電壓、電流或通電時間來檢測發射器的消耗程度；附著量估計部(73)，其基于發射器的消耗程度、以及存儲在存儲部(71)中的發射器的消耗程度與導電體附著于外殼的附著量的關系，來估計導電體附著于外殼的附著量；以及沿面放電估計部(74)，其基于發射器的消耗程度、存儲在存儲部(71)中的發射器的消耗程度與導電體附著于外殼的附著量的關系、以及存儲在存儲部(71)中的導電體附著于外殼的附著量與針對外殼的沿面放電的概率的關系，來估計發生沿面放電的概率。

技術領域

本發明涉及一種具備在外殼內配設有發射器和靶的X射線產生部的X射線裝置。

背景技術

作為具備X射線管的X射線產生部的壽命，能夠列舉X射線管的放電壽命。例如，對于因X射線管的真空度降低而引起的空間放電，以往根據X射線管的真空度來預測放電的危險度(參照專利文獻1)。另外，也利用來自X射線產生部的X射線的曝光次數來預測放電的危險度。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2006-100174號公報

發明內容

發明要解決的問題

作為成為X射線管的放電壽命的根源的放電，除空間放電之外，不僅能夠列舉因X射線管的真空度降低而引起的空間放電，還能夠列舉因構成發射器的導電體附著于構成X射線管的外殼的內周面而產生的沿面放電。關于因構成該發射器的導電體附著于外殼的內表面而產生的沿面放電，難以預測危險度。另外，在利用來自X射線產生部的X射線的曝光次數來預測放電的危險度的情況下，由于放電的危險度根據X射線曝光時的管電壓、管電流以及曝光時間等X射線條件而不同，因此產生危險度的預測精度不準確這樣的問題。

本發明是為了解決上述課題而完成的，其目的在于提供一種能夠更準確地估計構成發射器的導電體附著于外殼的附著量的X射線裝置。

用于解決問題的方案

第一發明的特征在于，具備：X射線產生部，其具有發射器、靶以及外殼，其中，所述發射器由導電體構成，用于發射電子，所述靶由于從所述發射器發射出的電子與所述靶碰撞而產生X射線，所述外殼用于收納所述發射器和所述靶；消耗程度檢測部，其檢測所述發射器的消耗程度；存儲部，其存儲所述發射器的消耗程度與構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量的關系；以及附著量估計部，其基于所述發射器的消耗程度、以及存儲在所述存儲部中的所述發射器的消耗程度與構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量的關系，來估計構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量。即，第一發明所涉及的X射線裝置具備：X射線產生部，其具有發射器、靶以及外殼，其中，所述發射器由導電體構成，用于發射電子，所述靶由于從所述發射器發射出的電子與所述靶碰撞而產生X射線，所述外殼用于收納所述發射器和所述靶；存儲部，其存儲所述發射器的消耗程度與構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量的關系；以及處理器，其執行以下的處理。(1)檢測發射器的消耗程度。(2)基于發射器的消耗程度、存儲在存儲部中的發射器的消耗程度與構成發射器的導電體附著于外殼的附著量的關系，來估計構成發射器的導電體附著于外殼的附著量。

關于第二發明，所述消耗程度檢測部根據對所述發射器施加的電壓、電流或通電時間來檢測所述發射器的消耗程度。即，處理器執行根據對發射器施加的電壓、電流或通電時間來檢測發射器的消耗程度的處理。