[發明專利]X射線裝置

在審

• 申請號: 201980054925.5
• 申請日: 2019-06-25
• 公開（公告）號: CN112602381A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 浦田朋晃
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H05G1/26
• 分類號: H05G1/26;A61B6/00;H05G1/34
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種X射線裝置，其特征在于，具備：

X射線產生部，其具有發射器、靶以及外殼，其中，所述發射器由導電體構成，用于發射電子，所述靶由于從所述發射器發射出的電子與所述靶碰撞而產生X射線，所述外殼用于收納所述發射器和所述靶；

消耗程度檢測部，其檢測所述發射器的消耗程度；

存儲部，其存儲所述發射器的消耗程度與構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量的關系；以及

附著量估計部，其基于所述發射器的消耗程度、以及存儲在所述存儲部中的所述發射器的消耗程度與構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量的關系，來估計構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量。

2.根據權利要求1所述的X射線裝置，其特征在于，

所述消耗程度檢測部根據對所述發射器施加的電壓、電流或通電時間來檢測所述發射器的消耗程度。

3.根據權利要求1所述的X射線裝置，其特征在于，

還具備溫度傳感器，

所述附著量估計部利用由所述溫度傳感器檢測出的所述X射線產生部的溫度或所述X射線產生部內的絕緣油的溫度，來估計構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量。

4.根據權利要求1所述的X射線裝置，其特征在于，

還具備姿勢傳感器，所述姿勢傳感器檢測所述X射線產生部的姿勢，

所述附著量估計部利用由所述姿勢傳感器檢測出的所述X射線產生部的姿勢，來估計構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量。

5.根據權利要求1所述的X射線裝置，其特征在于，

所述存儲部還存儲構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量與發生針對所述外殼的沿面放電的概率的關系，

所述X射線裝置還具備沿面放電估計部，所述沿面放電估計部基于所述發射器的消耗程度、存儲在所述存儲部中的所述發射器的消耗程度與構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量的關系、以及存儲在所述存儲部中的構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量與針對所述外殼的沿面放電的概率的關系，來估計發生沿面放電的概率。

6.根據權利要求5所述的X射線裝置，其特征在于，

在由所述沿面放電估計部估計出的發生沿面放電的概率超過了預先設定的設定值時，執行警告顯示。

7.根據權利要求1所述的X射線裝置，其特征在于，

所述存儲部還存儲構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量與穿過所述外殼的X射線的透過率的關系、或者構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量與穿過所述外殼的X射線的譜的關系，

所述X射線裝置還具備圖像處理部，所述圖像處理部基于構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量、以及存儲在所述存儲部中的構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量與穿過所述外殼的X射線的透過率的關系，或者基于構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量、以及存儲在所述存儲部中的構成所述發射器的導電體附著于所述外殼的附著量與穿過所述外殼的X射線的譜的關系，來變更顯示部中顯示的X射線圖像的圖像處理條件。