[發明專利]光測距裝置

在審

• 申請號: 201980053271.4
• 申請日: 2019-08-02
• 公開（公告）號: CN112567260A
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: 尾崎憲幸;清野光宏;木村禎祐;柏田真司
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝
• 主分類號: G01S7/484
• 分類號: G01S7/484;G01C3/06;G01S17/894;G01S17/08
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 舒艷君;王海奇

1.一種光測距裝置，是光測距裝置(10)，具備：

光源部(20)，對測定范圍照射照射光；

受光部(30)，具有受光面(32)，所述受光面(32)具有能夠接受與所述照射光的照射對應的來自包含所述測定范圍的范圍的反射光的多個受光要素，所述受光部(30)按每個所述受光要素輸出與所述反射光的受光狀態對應的信號；以及

測定部(40)，使用從所述受光部輸出的所述信號來測定到所述測定范圍中的物體的距離，

所述受光部具有通過選擇輸出所述信號的受光要素來使接受所述反射光的受光位置可變的功能，并針對所述反射光的位置，將所述受光位置向多個位置變更。

2.根據權利要求1所述的光測距裝置，其中，

所述受光面上的所述反射光的大小小于所述受光面的大小。

3.根據權利要求1或2所述的光測距裝置，其中，

所述光源部在多個方位中使方位變更并對所述測定范圍照射所述照射光，使得照射所述照射光的方位朝向預先決定的方向移動。

4.根據權利要求1～3中任意一項所述的光測距裝置，其中，

所述光源部在多個方位中使照射所述照射光的方位變更并對所述測定范圍照射所述照射光，使得所述反射光在所述受光面上朝向預先決定的第一方向移動，

所述受光部針對被照射所述照射光的一個方位，將接受所述反射光的受光要素的位置、即受光位置在所述第一方向上向多個位置變更。

5.根據權利要求4所述的光測距裝置，其中，

所述受光部通過使所述受光位置朝向所述第一方向移動而將所述受光位置向多個位置變更。

6.根據權利要求5所述的光測距裝置，其中，

所述受光部使所述受光位置以比所述反射光在所述受光面上移動的速度快的速度移動。

7.根據權利要求6所述的光測距裝置，其中，

每當完成對于所述照射光對所述一個方位的照射的受光處理時，所述受光部使所述受光位置向所述第一方向的相反方向移動。

8.根據權利要求7所述的光測距裝置，其中，

所述受光部使所述受光位置向所述第一方向的相反方向移動，來使所述受光位置返回到比所述照射光對先前的方位的照射開始時的受光位置更靠所述第一方向側的位置。

9.根據權利要求4～8中任意一項所述的光測距裝置，其中，

在通過所述測定部針對所述多個方位完成距離的測定之后，所述受光部在不進行所述距離的測定期間中使所述受光位置返回到初始位置。

10.根據權利要求4～9中任意一項所述的光測距裝置，其中，

所述光測距裝置具備測定溫度或者濕度的傳感器(60)，

所述受光部根據由所述傳感器測定出的溫度或者濕度來變更在所述一個方位變更所述受光位置的多個位置的數量。

11.根據權利要求1～10中任意一項所述的光測距裝置，其中，

所述受光要素具備SPAD，所述SPAD輸出表示光的入射的輸出信號作為所述信號，其中，該SPAD是單光子雪崩二極管。

12.根據權利要求11所述的光測距裝置，其中，

所述測定部按每個所述受光要素，對大致同時從多個所述SPAD輸出的所述輸出信號的數量進行計數，并按照射所述照射光之后的每個飛行時間，記錄所計數的所述輸出信號的數量，從而按每個所述受光要素求出直方圖，并基于所述直方圖，按每個所述受光要素測定所述距離。

13.一種光測距裝置，具備：

受光部，具有受光面，所述受光面具有能夠接受來自測定范圍的反射光的多個受光要素，所述受光部按每個所述受光要素輸出與所述反射光的受光狀態對應的信號；

光源部，使照射照射光的方位變更并對所述測定范圍照射所述照射光，使得所述反射光在所述受光面上移動；以及

測定部，使用從所述受光部輸出的所述信號來測定到所述測定范圍中的物體的距離，

所述受光部使受光位置朝向預先決定的方向移動并進行所述反射光的接受，所述受光位置是接受所述反射光的受光要素的位置，

所述光源部針對進行所述反射光的接受的一個所述受光位置，將照射所述照射光的方位向多個方位變更。