[發明專利]谷粒品級判別裝置

在審

• 申請號: 201980052351.8
• 申請日: 2019-08-01
• 公開（公告）號: CN112534244A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 松島秀昭;池田學
• 申請（專利權）人: 株式會社佐竹
• 主分類號: G01N21/85
• 分類號: G01N21/85
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 丁文蘊;杜嘉璐

本發明的目的在于提供一種谷粒品級判別裝置，可通過避免光源顯映在透明的樣品盤的底部，以良好精度判別上述樣品盤所載置的谷粒的外觀品級。本發明是一種谷粒品級判別裝置，相對于具有透明的底面的樣品盤所載置的谷粒照射光，使光穿透上述谷粒，并基于來自上述谷粒的穿透光來判別上述谷粒的外觀品級，其特征為，在上述樣品盤的下方配設具有光源的照明機構，上述照明機構相對于上述樣品盤所載置的谷粒照射間接光。本發明優選上述照明機構具有配設在上述樣品盤的斜下方的光源區塊，上述光源配設在上述光源區塊的內側，上述照明機構使來自上述光源的光在上述光源區塊的內側反射，并作為間接光相對于上述樣品盤所載置的谷粒從斜下方照射。

技術領域

本發明涉及對米、麥、豆、玉米等谷粒的外觀品級進行判別的谷粒品級判別裝置。本發明尤其涉及下述谷粒品級判別裝置：具備可避免光源顯映在樣品盤的底部的照明機構，且以良好精度判別上述樣品盤所載置的谷粒的外觀品級。

背景技術

以往，已知有以下裝置：將光照射至谷粒，使上述光穿透上述谷粒及/或在上述谷粒反射，基于來自上述谷粒的穿透光及/或反射光來判別上述谷粒的外觀品級(參照專利文獻1、2)。

專利文獻1記載一種包括拍攝機構的裝置，具備上部拍攝照明單元、下部照明單元、載置配置在這些之間的判別對象即任意數的谷粒的托盤，且從上部拍攝照明單元的上部發光部將光照射至上述托盤所載置的谷粒并利用上部拍攝照明單元拍攝其反射光、或從下部照明單元的下部發光部將光照射至上述谷粒并利用上部拍攝照明單元拍攝其穿透光，獲取來自上述谷粒的反射光或穿透光所成的圖像數據。

另外，專利文獻2記載有一種裝置，具備：基底構件；旋轉構件，在上述基底構件內配設成可旋轉，且在一側方具有光源；以及罩構件，安裝在上述基底構件上而與該基底構件一起構成外框，位于上述旋轉構件的上方且具有支撐載置谷粒的樣品盤的開口部，將載置了多個谷粒的樣品盤設置在上述罩構件的開口部，并通過上述光源從斜下方將光照射至上述樣品盤的透明的底面，從斜下方使光穿透上述樣品盤所載置的多個谷粒。

根據上述專利文獻1所記載的裝置，可通過比較利用拍攝機構獲取的來自谷粒的反射光或穿透光所成的圖像數據和谷粒檢查用的基準圖像數據來判別上述谷粒的外觀品級。

另外，根據上述專利文獻2所記載的裝置，能夠通過操作者從樣品盤的上方通過目視等來觀察谷粒內有無陰影而檢測主體破裂米等。

然而，專利文獻1所記載的裝置在下部發光部上載置托盤，會有以下問題：上述下部發光部顯映在上述托盤的底部，對于由上述拍攝機構所獲取的谷粒的圖像數據造成影響，因此無法以良好精度判別谷粒的外觀品級。

另一方面，專利文獻2所記載的裝置將光源配設在樣品盤的下部側方，且從斜下方將光照射至上述樣品盤的底面，但在未將上述光源向上述樣品盤的側方拉遠配設的情況下，會有以下問題：上述光源顯映在上述樣品盤的底部，對于通過樣品盤的上方的操作者的目視等進行的谷粒觀察造成影響，因此無法正確檢測主體破裂米等。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2015-7606號公報

專利文獻2：日本特開2014-173884號公報

發明內容

發明所要解決的問題

因此，本發明的目的在于提供一種谷粒品級判別裝置，可通過避免光源顯映在透明的樣品盤的底部，而以良好精度判別上述樣品盤所載置的谷粒的外觀品級。

用于解決問題的方案

為了實現上述目的，本發明的一實施方式是一種谷粒品級判別裝置，將光照射至具有透明的底面的樣品盤所載置的谷粒，使光穿透上述谷粒，并基于來自上述谷粒的穿透光來判別上述谷粒的外觀品級，其特征為，

在上述樣品盤的下方配設具有光源的照明機構，