[發明專利]谷粒品級判別裝置在審
| 申請號: | 201980052351.8 | 申請日: | 2019-08-01 |
| 公開(公告)號: | CN112534244A | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發明(設計)人: | 松島秀昭;池田學 | 申請(專利權)人: | 株式會社佐竹 |
| 主分類號: | G01N21/85 | 分類號: | G01N21/85 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 丁文蘊;杜嘉璐 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 谷粒 品級 判別 裝置 | ||
1.一種谷粒品級判別裝置,相對于具有透明的底面的樣品盤所載置的谷粒照射光,使光穿透上述谷粒,并基于來自上述谷粒的穿透光來判別上述谷粒的外觀品級,上述谷粒品級判別裝置的特征在于,
在上述樣品盤的下方配設具有光源的照明機構,
上述照明機構相對于上述樣品盤所載置的谷粒照射間接光。
2.根據權利要求1所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
上述照明機構具有配設在上述樣品盤的斜下方的光源區塊,且上述光源配設在上述光源區塊的內側,
上述照明機構使來自上述光源的光在上述光源區塊的內側反射,并作為間接光相對于上述樣品盤所載置的谷粒從斜下方照射。
3.根據權利要求2所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
上述光源區塊具有:固定部,固定上述光源;導光部,位于上述固定部的上部且向上述樣品盤的中心側延伸,遮擋從上述光源朝向上述樣品盤的底部的直接光并使其反射;以及反射部,位于上述固定部的下部,且反射來自上述光源的直接光或來自上述導光部的反射光,
上述照明機構使來自上述光源的光在上述光源區塊的上述各部的內側面反射,并作為間接光相對于上述樣品盤所載置的谷粒從斜下方照射。
4.根據權利要求3所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
在上述樣品盤的下方配設成為背景的黑色反射板,另一方面,上述照明機構與上述黑色反射板的外方鄰接地配設,上述光源區塊的上述各部的內側面為白色。
5.根據權利要求1~4任一項所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
上述照明機構在上述樣品盤的斜下方配置多個,將來自上述光源的光作為間接光相對于上述樣品盤所載置的谷粒從多個方向照射。
6.根據權利要求1~5任一項所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
上述谷粒品級判別裝置相對于具有透明的底面的樣品盤所載置的谷粒照射光,且使光穿透上述谷粒及/或在上述谷粒反射,并基于來自上述谷粒的穿透光及/或反射光來判別上述谷粒的外觀品級,
在上述樣品盤的斜上方配設具有上部光源的上部照明機構,
上述上部照明機構具備:固定部,固定上述上部光源;下側遮光部,位于上述上部光源的下方,阻擋從上述上部光源朝向上述樣品盤的直接光并向上方反射;以及上側遮光部,位于上述上部光源的上方,遮擋從上述上部光源朝向上方的直接光以及在上述下側遮光部反射的反射光并向下方反射,
上述上部照明機構使來自上述上部光源的光在上述各遮光部反射,并作為間接光相對于上述樣品盤所載置的谷粒從斜上方照射。
7.根據權利要求6所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
上述上部照明機構在筒體的內面設置多個,將來自上述上部光源的光作為間接光相對于上述樣品盤所載置的谷粒從多個方向照射。
8.根據權利要求7所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
上述各遮光部為黑色,另一方面,就上述筒體的內面而言,比上述上側遮光部靠下方為白色,比上述上側遮光部靠上方為黑色。
9.根據權利要求7或8所述的谷粒品級判別裝置,其特征在于,
在上述上側遮光部的上方且上述筒體的內部配設黑色遮光板,上述黑色遮光板具有圓形狀的開口且調整來自上述谷粒的穿透光及/或反射光的光量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社佐竹,未經株式會社佐竹許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201980052351.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





