[發(fā)明專利]晶體管陣列在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980043977.2 | 申請日: | 2019-05-31 |
| 公開(公告)號: | CN112368852A | 公開(公告)日: | 2021-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | J·索卡特斯;H·萬德克邱武 | 申請(專利權(quán))人: | 弗萊克因艾伯勒有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/00 | 分類號: | H01L51/00;H01L27/28;H01L27/32;H01L27/12 |
| 代理公司: | 中國貿(mào)促會專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人: | 秦晨 |
| 地址: | 英國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶體管 陣列 | ||
一種生產(chǎn)器件的技術(shù),該器件包括限定晶體管陣列的各層的堆疊并且包含一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)電層間連接,其中該方法包括:形成源極?漏極導(dǎo)體圖案,該源極?漏極導(dǎo)體圖案限定源極導(dǎo)體陣列和漏極導(dǎo)體陣列,每個(gè)源極導(dǎo)體為晶體管陣列的相應(yīng)晶體管集合提供尋址線,并且每個(gè)漏極導(dǎo)體與晶體管陣列的相應(yīng)晶體管相關(guān)聯(lián);其中形成所述源極?漏極導(dǎo)體圖案包括形成第一導(dǎo)體子圖案,并且此后形成第二導(dǎo)體子圖案,其中所述第一導(dǎo)體子圖案在其中要形成與源極?漏極導(dǎo)體圖案的導(dǎo)電層間連接的一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域中提供源極?漏極導(dǎo)體圖案的導(dǎo)電表面,并且第二導(dǎo)體子圖案至少在源極導(dǎo)體和漏極導(dǎo)體最接近的區(qū)域中提供源極?漏極導(dǎo)體圖案的導(dǎo)電表面。
晶體管陣列可以由包括導(dǎo)體層、半導(dǎo)體層和絕緣體層的各層的堆疊來限定。
堆疊的一個(gè)重要部分是限定晶體管陣列的源極和漏極導(dǎo)體的源極-漏極導(dǎo)體圖案,并且本申請的發(fā)明人已經(jīng)進(jìn)行了以下研究:(i)改善半導(dǎo)體溝道與源極/漏極導(dǎo)體之間的電荷載流子傳輸,以及(ii)改善該源極-漏極導(dǎo)體圖案與堆疊中一個(gè)或多個(gè)其它層級的導(dǎo)體之間的導(dǎo)電連接。
由此,提供了一種制造器件的方法,該器件包括限定晶體管陣列的各層的堆疊并且包含一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)電層間連接,其中該方法包括:形成源極-漏極導(dǎo)體圖案,該源極-漏極導(dǎo)體圖案限定源極導(dǎo)體陣列和漏極導(dǎo)體陣列,每個(gè)源極導(dǎo)體為晶體管陣列的相應(yīng)晶體管集合提供尋址線,并且每個(gè)漏極導(dǎo)體與晶體管陣列的相應(yīng)晶體管相關(guān)聯(lián);其中形成所述源極-漏極導(dǎo)體圖案包括形成第一導(dǎo)體子圖案,并且此后形成第二導(dǎo)體子圖案,其中所述第一導(dǎo)體子圖案在其中要形成與源極-漏極導(dǎo)體圖案的導(dǎo)電層間連接的一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域中提供源極-漏極導(dǎo)體圖案的導(dǎo)電表面,并且第二導(dǎo)體子圖案至少在源極導(dǎo)體和漏極導(dǎo)體最接近的區(qū)域中提供源極-漏極導(dǎo)體圖案的導(dǎo)電表面。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,該方法還包括:在基本上限于所述一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域的區(qū)域和所述一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域中的每個(gè)互連區(qū)域周圍的外圍區(qū)域中形成所述第一導(dǎo)體子圖案;以及所述第二導(dǎo)體子圖案在所述外圍區(qū)域中與所述第一導(dǎo)體子圖案重疊。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,該方法還包括:在所述源極-漏極導(dǎo)體圖案上方形成一層或多層,并且此后使用由包含氧的氣體產(chǎn)生的等離子體在所述一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域中形成通孔,并在互連區(qū)域中沉積導(dǎo)體材料;其中第一導(dǎo)體子圖案的材料在形成通孔的條件下比第二導(dǎo)體子圖案的材料表現(xiàn)出更小的電導(dǎo)率降低。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,第一導(dǎo)體圖案的材料在暴露于所述等離子體時(shí)基本上不表現(xiàn)出電導(dǎo)率降低。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,該方法還包括在源極-漏極導(dǎo)體圖案上方形成半導(dǎo)體溝道材料層,以提供用于晶體管陣列的半導(dǎo)體溝道;以及使用由基本上不包括氧的氣體產(chǎn)生的等離子體對有機(jī)半導(dǎo)體溝道材料層構(gòu)圖。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,等離子體由基本上由一種或多種稀有氣體構(gòu)成的氣體產(chǎn)生。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,該方法還包括:在所述源極-漏極導(dǎo)體圖案上方形成一層或多層;此后在所述一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域中形成通孔;在所述一層或多層上方形成上導(dǎo)體圖案,該上導(dǎo)體圖案通過所述一個(gè)或多個(gè)互連區(qū)域中的通孔與第一導(dǎo)體子圖案接觸;以及其中上導(dǎo)體圖案和第一導(dǎo)體子圖案之間的接觸是不同導(dǎo)體材料之間的接觸。
由此,還提供了一種方法,包括:使用由基本上不包括氧的氣體產(chǎn)生的等離子體來對有機(jī)半導(dǎo)體溝道材料層構(gòu)圖,該有機(jī)半導(dǎo)體溝道材料層在限定晶體管陣列的各層的堆疊中提供半導(dǎo)體溝道。
根據(jù)一個(gè)實(shí)施例,等離子體由基本上由一種或多種稀有氣體構(gòu)成的氣體產(chǎn)生。
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H01L51-00 使用有機(jī)材料作有源部分或使用有機(jī)材料與其他材料的組合作有源部分的固態(tài)器件;專門適用于制造或處理這些器件或其部件的工藝方法或設(shè)備
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