[發(fā)明專利]包括具有經(jīng)冷卻的面板的噴頭的襯底處理室在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201980039640.4 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112262464A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 達(dá)莫達(dá)爾·拉賈拉姆·尚巴格;納格拉杰·尚卡爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 朗姆研究公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/683;C23C16/455 |
| 代理公司: | 上海勝康律師事務(wù)所 31263 | 代理人: | 李獻(xiàn)忠;張靜 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 包括 具有 冷卻 面板 噴頭 襯底 處理 | ||
一種用于襯底處理室的噴頭包含:內(nèi)壁;內(nèi)充氣腔,其位于所述內(nèi)壁之間;面板,其具有第一表面與第二表面,所述第二表面與所述第一表面相反;穿過(guò)所述面板的孔,其從所述第一表面延伸到所述第二表面;第一入口,其與所述內(nèi)充氣腔流體地連接;外壁;第一外充氣腔,其位于所述內(nèi)壁與所述外壁之間;第二外充氣腔,其位于所述內(nèi)壁與所述外壁之間;以及冷卻劑通道,其:使所述第一外充氣腔與所述第二外充氣腔流體地連接;設(shè)置在所述面板內(nèi)且在所述第一與第二表面之間;并且與所述孔流體地隔離。所述噴頭還包括:第二入口,其與所述第一外充氣腔流體地連接。
相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用
本申請(qǐng)要求于2018年6月12日申請(qǐng)的美國(guó)專利申請(qǐng)No.16/006,355的優(yōu)先權(quán)。上述引用的申請(qǐng)其全部公開(kāi)內(nèi)容都通過(guò)引用合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本公開(kāi)涉及襯底處理系統(tǒng),并且更具體地涉及具有經(jīng)冷卻的噴頭的襯底處理室。
背景技術(shù)
這里提供的背景描述是為了總體呈現(xiàn)本公開(kāi)的背景的目的。當(dāng)前指定的發(fā)明人的工作在其在此背景技術(shù)部分以及在提交申請(qǐng)時(shí)不能確定為現(xiàn)有技術(shù)的說(shuō)明書的各方面中描述的范圍內(nèi)既不明確也不暗示地承認(rèn)是針對(duì)本公開(kāi)的現(xiàn)有技術(shù)。
襯底處理系統(tǒng)可用于處理例如半導(dǎo)體晶片之類的襯底。可在襯底上被執(zhí)行的示例性處理包含但不限于沉積、蝕刻、清掃以及其他種類的處理。
襯底可被布置在位于處理室中的襯底支撐件上,例如底座或靜電卡盤(ESC)上。處理室內(nèi)的噴頭分布?xì)怏w或氣體混合物。等離子體用于引發(fā)處理室內(nèi)的化學(xué)反應(yīng)。
發(fā)明內(nèi)容
在一特征中,描述了一種用于襯底處理室的噴頭。所述噴頭包含:內(nèi)壁;內(nèi)充氣腔,其位于所述內(nèi)壁之間;面板,其具有第一表面與第二表面,所述第二表面與所述第一表面相反;穿過(guò)所述面板的孔,其從所述第一表面延伸到所述第二表面;第一入口,其與所述內(nèi)充氣腔流體地連接;外壁;第一外充氣腔,其位于所述內(nèi)壁與所述外壁之間;第二外充氣腔,其位于所述內(nèi)壁與所述外壁之間;以及冷卻劑通道,其:使所述第一外充氣腔與所述第二外充氣腔流體地連接;設(shè)置在所述面板內(nèi)且在所述第一與第二表面之間;并且與所述孔流體地隔離。所述還包括:第二入口,其與所述第一外充氣腔流體地連接。
在其他特征中,所述冷卻劑通道穿過(guò)所述面板的方向垂直于所述孔穿過(guò)所述面板的第二方向。
在其他特征中,所述噴頭包含:桿部分,其包含第一端和第二端,并且包含第一直徑;以及基座部分,其與所述桿部分的所述第二端連接,并且包含大于所述第一直徑的第二直徑。
在其他特征中,所述冷卻劑通道中的每一個(gè)與所述冷卻劑通道中的其他的每一個(gè)平行。
在其他特征中,所述噴頭還包含出口,其與所述第二外充氣腔流體地連接。
在其他特征中,所述噴頭還包含分隔部件,其設(shè)置在所述內(nèi)壁與所述外壁之間,并且將所述第一外充氣腔與所述第二外充氣腔流體地隔離。
在其他特征中,所述噴頭還包含第二孔,其:從所述第二表面延伸到所述冷卻劑通道;并且不延伸到所述第一表面。
在其他特征中,所述第二孔與穿過(guò)所述面板的所述孔平行。
在其他特征中,所述第二孔與穿過(guò)所述面板的所述孔流體地隔離。
在其他特征中,一種處理系統(tǒng)包含:所述襯底處理室;所述噴頭,其中所述噴頭設(shè)置在所述襯底處理室內(nèi);冷卻劑組件,其設(shè)置成將冷卻劑提供至所述第二入口;以及溫度控制器,其設(shè)置成在所述襯底處理室內(nèi)的襯底上的膜的等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)期間,控制所述冷卻劑組件,以將所述冷卻劑冷卻至小于或等于預(yù)定溫度。
在其他特征中,所述膜為氮化硅(SiN)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





