[發(fā)明專利]確定性星體內(nèi)建自測

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201980034415.1
• 申請日: 2019-03-21
• 公開（公告）號: CN112154336A
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉穎迪;尼蘭簡·穆克赫杰;賈納茲·拉杰斯基;杰吉·泰澤爾
• 申請（專利權(quán)）人: 明導(dǎo)公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3185
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 景懷宇

用于測試電路的系統(tǒng)，包括：掃描鏈、被配置為基于子測試向量信息來生成比特位反轉(zhuǎn)信號的控制器、以及比特反轉(zhuǎn)電路，所述比特反轉(zhuǎn)電路被耦合至該控制器并被配置為在移位操作期間基于該比特位反轉(zhuǎn)信號來反轉(zhuǎn)與多個移位時鐘周期相關(guān)聯(lián)的父測試向量的比特位以生成子測試向量。這里，用于比特位反轉(zhuǎn)的所述多個移位時鐘周期在每m個移位時鐘周期發(fā)生一次，并且所述子測試向量信息包括m的信息和移位操作中所述多個移位時鐘周期的位置。

相關(guān)申請

本申請要求于2018年3月22日提交的、名稱為“確定性星體內(nèi)建自測”、以YingdiLiu等人作為發(fā)明人、編號為62/646,494的美國臨時專利申請的權(quán)益，該申請通過引用整體并入本文。

技術(shù)領(lǐng)域

當(dāng)前公開的技術(shù)涉及電路測試。所公開技術(shù)的各種實施方式對于系統(tǒng)內(nèi)測試可以是特別有用的。

背景技術(shù)

高級駕駛員輔助系統(tǒng)(ADAS)和自主駕駛汽車快速發(fā)展的背后是對傳感器生成的數(shù)據(jù)的大量處理。反過來，這種趨勢推動了其中越來越多的先進技術(shù)節(jié)點正被加速引入的蓬勃發(fā)展中的汽車電子市場。隨著復(fù)雜的安全關(guān)鍵部件的數(shù)量迅速增長，該領(lǐng)域的集成電路(ICs)必須遵守由功能安全標(biāo)準(zhǔn)(例如ISO 26262及其汽車安全完整性D級(ASIL D)目標(biāo))驅(qū)動的最嚴(yán)格的高質(zhì)量和長期可靠性要求。除了高質(zhì)量的制造測試外，用于汽車IC的ASILD合規(guī)性還需要先進的和互補的測試方案，以解決汽車零件帶來的挑戰(zhàn)并支持以下測試要求中的一項或多項：(1)在功能性操作期間運行系統(tǒng)內(nèi)測試的能力，(2)由于對鑰匙開啟(key-on)、鑰匙關(guān)閉(key-off)的嚴(yán)格限制所導(dǎo)致的短測試應(yīng)用時間，并且尤其是為定期在線測試而部署的空閑時間，(3)低測試功率，(4)低硅面積，(5)處理IC制造時未知的缺陷敏感性的能力，以及(6)容易地擴大規(guī)模(scale up)的潛力。

邏輯內(nèi)建自測(LBIST)越來越多地與片上測試壓縮一起使用，以跟上尋求可行的系統(tǒng)內(nèi)測試替代的新技術(shù)的需求。LBIST通常采用掃描作為其操作基準(zhǔn)，以運行高質(zhì)量的實速功率感知測試(at-speed power-aware test)，并使用簡單的外部裝置來提供功率和時鐘信號。利用大眾市場駕駛安全關(guān)鍵系統(tǒng)，結(jié)合LBIST和測試數(shù)據(jù)壓縮的概念已允許多種測試方案能夠與傳統(tǒng)制造測試技術(shù)相匹敵。在非常短的時間段內(nèi)可達(dá)到高測試覆蓋率(包括系統(tǒng)級和現(xiàn)場測試過程)，對于打算要長期部署的裝置的高效和可靠的操作已經(jīng)變得至關(guān)重要。然而，新的更復(fù)雜的缺陷和可靠性風(fēng)險不可避免地提出這樣的問題：當(dāng)前測試方案的可持續(xù)性如何，以及不久可能需要什么測試設(shè)計方法。

在給定可行的向量計數(shù)的情況下，一些傳統(tǒng)的LBIST方案使用加權(quán)隨機向量來處理不可接受的低故障覆蓋率數(shù)。可替代地，可以通過擾動偽隨機向量來獲得期望的刺激。比特位翻轉(zhuǎn)及其應(yīng)用在這里可以用作示例。不幸的是，這些方案嚴(yán)重依賴于目標(biāo)測試集，并且每次測試向量(test pattern)由于邏輯工程改變順序(ECO)而改變時，方案必須被實質(zhì)性地重新合成。LBIST功能的其他方面也需要被解決。例如，LBIST方案應(yīng)當(dāng)較少受到未知狀態(tài)的影響，或者應(yīng)當(dāng)以可編程方式產(chǎn)生低功率測試向量。然而，相關(guān)的常規(guī)方案仍然主要處理偽隨機測試數(shù)據(jù)。利用這些測試向量，當(dāng)針對高級故障模型時，實現(xiàn)期望的測試質(zhì)量變得越來越困難。此外，隨機向量抗性故障(random pattern resistant failure)例行地需要測試點的插入以提高測試覆蓋率。

如前所述，混合BIST方案能夠克服測試數(shù)據(jù)帶寬的瓶頸。在混合BIST方案中，確定性填充向量(deterministic top-up pattern)(用于檢測隨機抗性故障)以壓縮形式存儲在測試器上，然后可以使用現(xiàn)有的BIST基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)來執(zhí)行矢量解壓縮。底層編碼方案通常利用測試立方(test cube)的低填充率的優(yōu)勢。該類中的方案包括線性反饋移位寄存器(linear-feedback shift register)LFSR編碼、靜態(tài)和動態(tài)LFSR重播。