[發(fā)明專利]確定性星體內(nèi)建自測在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201980034415.1 | 申請日： | 2019-03-21 |
| 公開（公告）號： | CN112154336A | 公開（公告）日： | 2020-12-29 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 劉穎迪;尼蘭簡·穆克赫杰;賈納茲·拉杰斯基;杰吉·泰澤爾 | 申請（專利權(quán)）人： | 明導(dǎo)公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人： | 景懷宇 |
| 地址： | 美國俄*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 確定性 星體 自測 | ||
1.一種用于測試電路的系統(tǒng)，包括：
掃描鏈，其包括掃描單元，所述掃描鏈被配置為：在測試模式下移入測試向量，將所述測試向量應(yīng)用至所述電路，捕獲所述電路的測試響應(yīng)，以及移出所述測試響應(yīng)；
控制器，其包括存儲電路，所述控制器被配置為基于存儲在所述存儲電路中的子測試向量信息來生成比特位反轉(zhuǎn)信號；和
比特位反轉(zhuǎn)電路，其耦合至所述控制器，所述比特位反轉(zhuǎn)電路被配置為在移位操作期間基于所述比特位反轉(zhuǎn)信號來反轉(zhuǎn)與多個移位時鐘周期相關(guān)聯(lián)的父測試向量的比特位，以生成子測試向量，其中用于比特位反轉(zhuǎn)的所述多個移位時鐘周期在每m個移位時鐘周期發(fā)生一次，并且所述子測試向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多個移位時鐘周期的位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，對于測試集的所有父測試向量的所有子向量，m是相同的。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中，所述父測試向量和所述移位操作中的所述多個移位時鐘周期的位置由測試向量生成軟件工具來確定，所述測試向量生成軟件工具執(zhí)行向量生成過程，所述向量生成過程包括：首先執(zhí)行電路結(jié)構(gòu)分析以識別超級門，使用所述超級門運行自動測試向量生成(ATPG)過程以確定父測試向量，并生成所述父測試向量的子測試向量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其中，所述向量生成過程還包括：執(zhí)行向量重新排序，并保存有效的子測試向量。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，還包括：
測試向量解壓縮電路，所述測試向量解壓縮電路被配置為將壓縮的父測試向量解壓縮為所述父測試向量。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中，在所述測試向量解壓縮電路中執(zhí)行所述反轉(zhuǎn)比特位。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其中，所述測試向量解壓縮電路包括鈴流發(fā)生器和移相器。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其中，由插入在所述鈴流發(fā)生器和所述移相器之間的XOR門來執(zhí)行所述反轉(zhuǎn)比特位。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的所述系統(tǒng)，其中，所述存儲電路包括用于存儲m的信息的第一寄存器和用于存儲在所述移位操作中的所述多個移位時鐘周期的位置的信息的第二寄存器。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中，所述控制器還包括遞減計數(shù)器，所述遞減計數(shù)器耦合到所述第二寄存器的輸出，并且基于將所述遞減計數(shù)器的輸出和所述第一寄存器的輸出進(jìn)行組合來生成所述比特位反轉(zhuǎn)信號。
11.一個或多個計算機(jī)可讀介質(zhì)，其存儲用于使計算機(jī)執(zhí)行方法的計算機(jī)可執(zhí)行指令，所述方法包括：
在電路設(shè)計中創(chuàng)建系統(tǒng)，以用于測試根據(jù)所述電路設(shè)計所制造的電路，所述系統(tǒng)包括：
掃描鏈，其包括掃描單元，所述掃描鏈在測試模式下被配置為移入測試向量，將所述測試向量應(yīng)用至所述電路，捕獲所述電路的測試響應(yīng)，以及移出所述測試響應(yīng)；
控制器，其包括存儲電路，所述控制器被配置為基于存儲在所述存儲電路中的子測試向量信息來生成比特位反轉(zhuǎn)信號；和
比特位反轉(zhuǎn)電路，其耦合至控制器，所述比特位反轉(zhuǎn)電路被配置為在移位操作期間基于所述比特位反轉(zhuǎn)信號來反轉(zhuǎn)與多個移位時鐘周期相關(guān)聯(lián)的父測試向量的比特位，以生成子測試向量，其中用于比特位反轉(zhuǎn)的所述多個移位時鐘周期在每m個移位時鐘周期發(fā)生一次，并且所述子測試向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多個移位時鐘周期的位置。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的一個或多個計算機(jī)可讀介質(zhì)，其中，對于測試集的所有父測試向量的所有子向量，m是相同的。
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