[發(fā)明專(zhuān)利]部件的形成方法和等離子體處理裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201980004518.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-05-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111095499A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 齋藤道茂;永關(guān)一也;金子彰太 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 東京毅力科創(chuàng)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/3065 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/3065;H05H1/46 |
| 代理公司: | 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 龍淳;王昊 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 部件 形成 方法 等離子體 處理 裝置 | ||
本發(fā)明提供一種在等離子體處理裝置內(nèi)使用的部件的形成方法,所述部件的形成方法包括一邊供給第1陶瓷的原料和與該第1陶瓷不同的第2陶瓷的原料,一邊對(duì)所述第1陶瓷的原料和所述第2陶瓷的原料照射能量束的工序。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及部件的形成方法和等離子體處理裝置。
背景技術(shù)
近年來(lái),等離子體處理裝置中設(shè)置的部件,為了實(shí)現(xiàn)高功能化而結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜,存在由不同的材料粘接、或接合,來(lái)進(jìn)行制作的情況(例如,參照專(zhuān)利文獻(xiàn)1)。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專(zhuān)利文獻(xiàn)
專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2018-46185號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題
在上述部件的制作中,有中空結(jié)構(gòu)等復(fù)雜的結(jié)構(gòu),需要長(zhǎng)時(shí)間的生產(chǎn)周期和開(kāi)發(fā)周期,因此制作部件時(shí)耗費(fèi)時(shí)間(lead time)增加,成為技術(shù)問(wèn)題。要求減少部件的制造工藝中的步驟數(shù),縮短耗費(fèi)時(shí)間。
對(duì)于上述技術(shù)問(wèn)題,其目的在于,在一側(cè)面中,縮短制作部件時(shí)的耗費(fèi)時(shí)間。
用于解決技術(shù)問(wèn)題的方法
為了上述技術(shù)問(wèn)題,依照一個(gè)方式,提供一種在等離子體處理裝置內(nèi)使用的部件的形成方法,所述部件的形成方法包括一邊供給第1陶瓷的原料和與該第1陶瓷不同的第2陶瓷的原料,一邊對(duì)所述第1陶瓷的原料和所述第2陶瓷的原料照射能量束的工序。
發(fā)明效果
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,能夠縮短制作部件時(shí)的耗費(fèi)時(shí)間。
附圖說(shuō)明
圖1是表示一實(shí)施方式的等離子體處理裝置的一例的圖。
圖2是圖1所示的等離子體處理裝置的載置臺(tái)的一部分的放大圖。
圖3是表示一實(shí)施方式的3D打印機(jī)的構(gòu)成的一例的圖。
圖4是表示一實(shí)施方式的部件的形成處理的一例流程圖。
圖5是用于說(shuō)明一實(shí)施方式的部件的形成方法的圖。
具體實(shí)施方式
以下,參照附圖,對(duì)用于實(shí)施本發(fā)明的方式進(jìn)行說(shuō)明。此外,在本說(shuō)明書(shū)和附圖中,對(duì)于實(shí)質(zhì)上相同的結(jié)構(gòu),標(biāo)注相同的附圖標(biāo)記而省略重復(fù)的說(shuō)明。
(等離子體處理裝置)
圖1所示的等離子體處理裝置100是電容耦合型的等離子體處理裝置的一例。等離子體處理裝置100包括處理容器112和載置臺(tái)116。處理容器112具有大致圓筒形狀,其內(nèi)部空間成為處理室112c。處理容器112例如由鋁構(gòu)成。在處理容器112的內(nèi)部空間側(cè)的表面形成了具有耐酸鋁膜和/或氧化釔膜之類(lèi)的耐等離子體性的陶瓷制的覆膜。處理容器112接地。在處理容器112的側(cè)壁,形成有用于將晶片W送入處理室112c或從處理室112c送出的開(kāi)口112p。開(kāi)口112p能夠由閘閥GV進(jìn)行開(kāi)閉。
載置臺(tái)116構(gòu)成為能夠?qū)⒕琖支承在處理室112c內(nèi)。載置臺(tái)116具有吸附晶片W的功能、調(diào)節(jié)晶片W的溫度的功能和對(duì)靜電吸盤(pán)的下方的基座117傳輸高頻的結(jié)構(gòu)。對(duì)載置臺(tái)116的詳細(xì)情況,在后面說(shuō)明。
等離子體處理裝置100具有上部電極130。上部電極130配置于處理容器112的上部開(kāi)口內(nèi),相對(duì)于作為下部電極發(fā)揮作用的載置臺(tái)116大致平行地配置。在上部電極130與處理容器112之間,存在絕緣性的支承零件132。
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