[發明專利]檢測芯片及其制備方法

有效

• 申請號: 201980000847.0
• 申請日: 2019-06-17
• 公開（公告）號: CN112399887B
• 公開（公告）日: 2023-02-07
• 發明（設計）人: 殷雨丹
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: B01L3/00
• 分類號: B01L3/00;G01N33/50
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

1.一種檢測芯片，包括：

第一基板；

多個檢測單元，位于所述第一基板上；

至少一個導流壩，位于所述第一基板上，所述導流壩沿第一路徑延伸且位于相鄰的檢測單元之間，

其中，所述多個檢測單元排列為多列，所述第一路徑沿列方向延伸，

所述檢測芯片還包括親水層，所述親水層覆蓋所述檢測單元和所述導流壩。

2.根據權利要求1所述的檢測芯片，其中，每列檢測單元的兩側均設置有所述導流壩。

3.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，其中，所述至少一個導流壩包括多個導流壩，所述多個導流壩彼此平行。

4.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，其中，所述導流壩沿垂直于所述第一基板的方向的高度大于所述檢測單元沿垂直于所述第一基板的方向的高度。

5.根據權利要求1所述的檢測芯片，其中，所述親水層覆蓋所述檢測單元的部分包括化學修飾基團。

6.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，還包括疏水層，其中，所述疏水層設置在所述第一基板上，所述檢測單元和所述導流壩設置在所述疏水層上。

7.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，還包括第二基板，其中，所述第二基板與所述第一基板相對設置，且與所述第一基板間隔開以提供檢測空間。

8.根據權利要求7所述的檢測芯片，還包括進樣口和出樣口，其中，所述進樣口和所述出樣口設置在所述第二基板上。

9.根據權利要求8所述的檢測芯片，還包括檢測區域，其中，所述多個檢測單元位于所述檢測區域中，

所述多個檢測單元排列為多列，所述進樣口和所述出樣口沿列方向分布在所述檢測區域的兩側。

10.根據權利要求9所述的檢測芯片，其中，所述進樣口和所述出樣口沿所述列方向軸對稱或中心對稱分布在所述檢測區域的兩側。

11.根據權利要求7所述的檢測芯片，其中，所述第一基板和/或所述第二基板為玻璃基板。

12.根據權利要求7所述的檢測芯片，還包括封框膠，其中，所述封框膠位于所述第一基板和所述第二基板之間，且圍繞所述導流壩和所述多個檢測單元。

13.根據權利要求7所述的檢測芯片，其中，所述導流壩的高度為所述第一基板與所述第二基板之間的距離的30%至60%。

14.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，其中，所述導流壩的寬度為50微米至200微米，所述導流壩與相鄰的檢測單元的間距大于或等于100微米。

15.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，其中，所述導流壩的長度大于或等于所述多個檢測單元在所述第一路徑上的長度之和。

16.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，其中，所述導流壩在垂直于所述第一路徑的方向上的截面形狀為矩形、正方形、梯形或半圓形。

17.根據權利要求1-2任一所述的檢測芯片，其中，所述導流壩的材料包括光刻膠。

18.根據權利要求6所述的檢測芯片，還包括定位部件，其中，所述定位部件位于所述第一基板上，所述疏水層設置在所述定位部件上。

19.一種如權利要求1-18任一所述的檢測芯片的制備方法，包括：

在第一基板上形成多個檢測單元和至少一個導流壩；

其中，所述導流壩沿第一路徑延伸且位于相鄰的檢測單元之間。