[實(shí)用新型]流體供給裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201922437315.3 | 申請日: | 2019-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN210925964U | 公開(公告)日: | 2020-07-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金東旻 | 申請(專利權(quán))人: | 凱斯科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京冠和權(quán)律師事務(wù)所 11399 | 代理人: | 陳國軍 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 流體 供給 裝置 | ||
本實(shí)用新型涉及一種流體供給裝置,涉及一種用于將一定溫度的流體供給至腔室的流體供給裝置。本實(shí)用新型的流體供給裝置包括:供給管路,其供向腔室供給的流體流動;至少一個旁通管路,其從所述供給管路的第一分支部分支出來,重新連接至所述供給管路的第二分支部;加熱裝置,其對在所述旁通管路上流動的所述流體進(jìn)行加熱。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種流體供給裝置,涉及一種用于將一定溫度的流體供給至腔室的流體供給裝置。
背景技術(shù)
最近,隨著信息通信領(lǐng)域的極速發(fā)展和類似計(jì)算機(jī)的信息媒體的大眾化,半導(dǎo)體裝置也正在飛躍發(fā)展。此外,在其功能方面,隨著半導(dǎo)體裝置的元件高集成化傾向,為了縮小形成于基板的個別元件的大小的同時極大化元件性能,正在研究開發(fā)各種方法。
通常,通過反復(fù)進(jìn)行平版印刷(Lithography)、蒸鍍(Deposition)及蝕刻(Etching)、涂覆(Coating)光刻膠(Photoresist)、顯影(Develop)、清洗及干燥工藝等多個基板處理而制造半導(dǎo)體元件。
各個工藝通過利用適合于各自目的的工藝流體來實(shí)現(xiàn),每個工藝需要一個合適的工藝環(huán)境。
通常,各個工藝通過將基板收容于形成相應(yīng)工藝環(huán)境的腔室或者槽中而實(shí)現(xiàn),為了防止外部顆粒的流入,可通過將基板收容于密封的腔室內(nèi)部而實(shí)現(xiàn)。
在執(zhí)行各個工藝的基板上會殘存金屬雜質(zhì)、有機(jī)物等顆粒,如上所述的污染物質(zhì)會導(dǎo)致基板的工藝不良,對產(chǎn)品的收率及可靠性產(chǎn)生不利影響。
由此,為了去除顆粒,每當(dāng)完成一個工藝時反復(fù)執(zhí)行的清洗及干燥工藝非常重要。
清洗可分為濕式清洗和干式清洗,其中,濕式清洗廣泛用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。
濕式清洗是每個步驟利用適合于污染物質(zhì)的化學(xué)物質(zhì)連續(xù)去除污染物質(zhì)的方式,利用大量酸性和堿性溶液等來去除殘留在基板的污染物質(zhì)。
干燥工藝中經(jīng)常利用超臨界流體。尤其,近來半導(dǎo)體元件的設(shè)計(jì)規(guī)則(designrule)持續(xù)減小,以微細(xì)結(jié)構(gòu)圖案為主的同時,急劇增加圖案的縱橫比(AspectRatio),從而當(dāng)蝕刻或者清洗等濕式工藝完成之后,作為在干燥藥液的過程中產(chǎn)生的圖案傾斜(Pattern leaning)現(xiàn)象的解決方法,利用超臨界流體。
當(dāng)超過稱為臨界點(diǎn)(critical point)的一定高溫高壓的界限時,物質(zhì)成為無法區(qū)分氣體和液體的狀態(tài),即超臨界狀態(tài),將處于該狀態(tài)的物質(zhì)稱為超臨界流體。
超臨界流體具有分子的密度變化大的特征。雖然分子的密度接近液體,但是因?yàn)檎承远鹊停越咏鼩怏w。此外,像氣體一樣快速擴(kuò)散,從而導(dǎo)熱性像水一樣高,但是像液體一樣用作溶劑,從而具有溶質(zhì)周邊的溶劑濃度極其變高的特異性質(zhì),不受表面張力的影響。由此,超臨界流體對于化學(xué)反應(yīng)非常有用,從混合物中提取和分離特定成分的性質(zhì)很強(qiáng),從而用于各種領(lǐng)域,尤其,臨界溫度相對接近常溫且屬于非極性物質(zhì)的超臨界二氧化碳的利用率高。
由此,正在活躍地進(jìn)行針對流體供給裝置的研究,為了將流體以超臨界狀態(tài)供給于基板處理用腔室,流體供給裝置將在供給管路上流動的流體的溫度保持在適當(dāng)溫度,即臨界溫度以上的溫度。
參照圖1,對通過現(xiàn)有技術(shù)將流體供給于基板處理用腔室的流體供給裝置進(jìn)行說明。
根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的流體供給裝置包括:流體罐10,其臨時存儲向基板處理用腔室30供給的流體;供給管路20,其連接所述腔室30和所述流體罐10,在所述流體罐10設(shè)置有加熱所述流體罐10內(nèi)部的所述流體的流體罐加熱器11,在所述供給管路20上設(shè)置有供給管路加熱器21和供給管路泵22,供給管路加熱器21加熱在所述供給管路20上流動的所述流體,供給管路泵22使得流體朝向所述腔室30流動。
所述流體罐10供氣體或者液體狀態(tài)的二氧化碳流入并存儲,所述二氧化碳被流體罐加熱器11加熱后成為超臨界狀態(tài)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于凱斯科技股份有限公司,未經(jīng)凱斯科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201922437315.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





