[實用新型]一種微波芯片檢測裝置

有效

• 申請號: 201922274503.9
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN212207573U
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 邱少軍;于孟國;王晶;王惠;趙娜;楊盼
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G05B19/042
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 李明里

本實用新型涉及一種微波芯片檢測裝置，屬于芯片測試技術領域，解決微波芯片的無損檢測問題，裝置包括測試裝具(2)、控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)；測試裝具(2)，用于無損安裝待測微波芯片；控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)分別通過測試裝具(2)與待測微波芯片的控制端口、微波輸入端口和微波輸出端口連接；輸入端口(4)外接微波信號源(9)，用于為待測微波芯片提供信號源；輸出端口(5)外接頻譜分析儀(10)，用于檢測待測微波芯片的輸出信號；控制單元(3)，用于產生控制信號，控制待測微波芯片輸出信號的參數。本實用新型制造成本低、結構簡單；測試過程簡單、便捷，適用于批量測試。

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，尤其涉及一種微波芯片檢測裝置。

背景技術

目前的微波器件功能復雜、封裝小、引腳多，在投入使用前對其功能、性能進行測試，可以充分的剔除早期失效品，為器件的正式投入使用減小隱患。

現有的用于微波器件檢測的裝置，存在以下局限性：

(1)只能對管腳簡單的器件進行測試，復雜管腳尤其需要外部控制的芯片，測試難度較大；

(2)只能單頻點測試，或通過控制單元重新配置更改頻率，測試流程復雜、測試頻點受到下載程序繁瑣等因素限制，測試項目和參數單一，無法覆蓋芯片的全部性能；

(3)不能夠實現全流程自動測試，并自動保存測試結果；

(4)高頻信號傳輸容易受到寄生參數干擾，阻抗不匹配導致測試結果失真；

(5)有源射頻芯片容易受到開關電源干擾，導致輸出信號被調制；

(6)測試結果一致性差，尤其是頻率較高時。

實用新型內容

鑒于上述的分析，本實用新型旨在提供一種微波芯片檢測裝置，解決微波芯片的無損檢測問題。

本實用新型的目的主要是通過以下技術方案實現的：

本實用新型公開了一種微波芯片檢測裝置，包括測試裝具(2)、控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)；

所述測試裝具(2)，用于無損安裝待測微波芯片；

所述控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)分別通過所述測試裝具(2)與所述待測微波芯片的控制端口、微波輸入端口和微波輸出端口連接；

所述輸入端口(4)外接微波信號源(9)，用于為所述待測微波芯片提供信號源；

所述輸出端口(5)外接頻譜分析儀(10)，用于檢測所述待測微波芯片的輸出信號；

所述控制單元(3)，用于控制所述待測微波芯片輸出不同的參數信號。

進一步地，所述測試裝具(2)包括測試插座和上蓋板，所述測試插座包括與所述待測芯片的焊盤一一對應的彈簧針；所述待測芯片按照正確的方向放入測試插座中時，所述上蓋板與所述測試插座蓋合。

進一步地，所述控制單元(3)包括控制組件(31)和開關組件(32)；

所述控制組件(31)的輸入端連接開關組件(32)，輸出端通過所述測試裝具(2)連接所述待測微波芯片的控制端口；所述控制芯片基于開關組件中不同開關的通斷，控制所述待測微波芯片輸出對應不同開關的參數信號。

進一步地，所述開關組件(32)包括4個與所述控制組件(31)連接的獨立的微動開關。

進一步地，控制單元(3)還包括GPIB通訊接口(33)和/或RS232通訊接口(34)；所述GPIB通訊接口(33)和/或RS232通訊接口(34)，用于將所述控制組件(31)與電腦(7)進行連接。