[實用新型]一種微波芯片檢測裝置

有效

• 申請號: 201922274503.9
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN212207573U
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 邱少軍;于孟國;王晶;王惠;趙娜;楊盼
• 申請（專利權）人: 北京振興計量測試研究所
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G05B19/042
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 李明里

1.一種微波芯片檢測裝置，其特征在于，包括測試裝具(2)、控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)；

所述測試裝具(2)，用于無損安裝待測微波芯片；

所述控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)分別通過所述測試裝具(2)與所述待測微波芯片的控制端口、微波輸入端口和微波輸出端口連接；

所述輸入端口(4)外接微波信號源(9)，用于為所述待測微波芯片提供信號源；

所述輸出端口(5)外接頻譜分析儀(10)，用于檢測所述待測微波芯片的輸出信號；

所述控制單元(3)，用于控制所述待測微波芯片輸出不同的參數信號。

2.根據權利要求1所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，所述測試裝具(2)包括測試插座和上蓋板，所述測試插座包括與所述待測芯片的焊盤一一對應的彈簧針；所述待測芯片按照正確的方向放入測試插座中時，所述上蓋板與所述測試插座蓋合。

3.根據權利要求1所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，所述控制單元(3)包括控制組件(31)和開關組件(32)；

所述控制組件(31)的輸入端連接開關組件(32)，輸出端通過所述測試裝具(2)連接所述待測微波芯片的控制端口；所述控制組件(31)基于開關組件(32)中不同開關的通斷，控制所述待測微波芯片輸出對應不同開關的參數信號。

4.根據權利要求3所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，所述開關組件(32)包括4個與所述控制組件(31)連接的獨立的微動開關。

5.根據權利要求3所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，控制單元(3)還包括GPIB通訊接口(33)和/或RS232通訊接口(34)；所述GPIB通訊接口(33)和/或RS232通訊接口(34)，用于將所述控制組件(31)與電腦(7)進行連接。

6.根據權利要求5所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，所述的GPIB通訊接口(33)通過NI的GPIB轉接卡與電腦(7)連接；所述的RS232通訊接口(34)通過USB轉RS232轉接卡與電腦(7)連接。

7.根據權利要求1所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，還包括供電單元(6)，所述供電單元(6)包括供電電路和供電接口；

所述供電接口將外接的直流穩壓電源(8)連接到供電電路；

所述供電電路包括開關電源電路和線性電源電路，分別給控制單元(3)和待測芯片供電。

8.根據權利要求7所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，還包括基板(1)，所述測試裝具(2)、控制單元(3)、輸入端口(4)、輸出端口(5)和供電單元(6)通過焊接的方式固定于基板(1)上。

9.根據權利要求1-8任一項所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，所述待測微波芯片為鎖相頻率合成器。

10.根據權利要求9所述的微波芯片檢測裝置，其特征在于，所述測試裝具(2)包括型號24QN50S14040-C的專用測試插座。