[實用新型]一種芯片切痕檢驗臺

有效

• 申請號: 201922268665.1
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN211385870U
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 田光明;王波;王小波
• 申請（專利權）人: 無錫科瑞泰半導體科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種芯片切痕檢驗臺，所述機架的上端連接有傳輸帶，所述機架的上端兩側分別通過支架連接有檢驗臺本體，所述檢驗臺本體的左側連接有弧形支撐板，所述檢驗臺本體的上端右側還設有滑道，所述滑道的下端位于檢驗臺本體的下端連接有第一滑板，所述第一滑板的上端等距連接有若干組第一滑輪，所述第一滑板的右端向下傾斜設置；本實用新型可將檢驗完成后的合格的產品和不合格的產品進行分類存放，通過在檢驗臺本體上設有滑道的設置，便于快速將芯片放入滑道中，同時還設有第二滑板、第二滑輪、第二軟板，可將檢驗后的不合格芯片阻隔在傳輸帶上檢驗臺本體的下端，檢驗合格的芯片則通過第二滑板進行輸送，便于檢驗時使用。

技術領域

本實用新型涉及芯片切痕檢驗臺技術領域，具體為一種芯片切痕檢驗臺。

背景技術

隨著國內LED行業的不斷發展，芯片是非常重要的一個結構部件，芯片在加工完成后通常需要切割成為不同大小的體積來進行分類使用，現有的芯片加工工藝子啊切割完成后需要對芯片進行檢驗，以保證成品的合格，而現有的檢驗臺結構單一，不便于對芯片檢驗時使用。

為此，我們推出一種芯片切痕檢驗臺。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種芯片切痕檢驗臺，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種芯片切痕檢驗臺，包括機架、芯片檢驗設備，所述機架的上端連接有傳輸帶，所述機架的上端兩側分別通過支架連接有檢驗臺本體，所述檢驗臺本體的左側連接有弧形支撐板，所述檢驗臺本體的上端右側還設有滑道，所述滑道的下端位于檢驗臺本體的下端連接有第一滑板，所述第一滑板的上端等距連接有若干組第一滑輪，所述第一滑板的右端向下傾斜設置，所述檢驗臺本體的右端上側連接有第二滑板，所述第二滑板的上端等距安裝有若干組第二滑輪，所述第二滑板的右側下端連接有第二軟板，所述機架的上端一側還連接有側支架，所述側支架呈L型設置，所述側支架的下端連接有芯片檢驗設備。

作為本技術方案的進一步優化，所述滑道呈傾斜設置，所述機架的下端四角分別連接有支撐腿。

作為本技術方案的進一步優化，所述第一滑板的右端連接有第一軟板，所述第一軟板為橡膠軟板。

作為本技術方案的進一步優化，所述弧形支撐板、第一滑板、第二滑板均位于傳輸帶的上方。

作為本技術方案的進一步優化，所述弧形支撐板的下端靠近傳輸帶的上端面。

作為本技術方案的進一步優化，所述芯片檢驗設備位于檢驗臺本體的上方中部。

與現有技術相比，本實用新型的有益效果是：本實用新型可將檢驗完成后的合格的產品和不合格的產品進行分類存放，通過在檢驗臺本體上設有滑道的設置，便于快速將芯片放入滑道中，并且滑道呈傾斜設置，檢驗完成的不合格芯片通過滑道向下進入第一滑板，從上端的第一滑輪中被滾動向下進入第一軟板上再落到傳輸帶上，當芯片滑落到第一軟板上時，第一軟板受重力而一端向下與傳輸帶接觸，使得上端的芯片緩緩落在傳輸帶上，進行檢驗后的輸送，同時還設有第二滑板、第二滑輪、第二軟板，可將檢驗后的不合格芯片阻隔在傳輸帶上檢驗臺本體的下端，檢驗合格的芯片則通過第二滑板進行輸送，然后在第二滑輪上向下滑落在第二軟板上，再繼續從傳輸帶上被輸送，便于檢驗時使用。

附圖說明

圖1為本實用新型側視結構示意圖；

圖2為本實用新型俯視結構示意圖；

圖3為本實用新型第二滑板結構示意圖；

圖4為本實用新型第一滑板結構示意圖。

圖中：1、機架；2、支撐腿；3、傳輸帶；4、支架；5、檢驗臺本體；6、弧形支撐板；7、第二滑板；8、第二滑輪；9、第二軟板；10、側支架；11、芯片檢驗設備；12、滑道；13、第一滑板；14、第一滑輪；15、第一軟板。