[實用新型]一種芯片切痕檢驗臺

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201922268665.1
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN211385870U
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發(fā)明（設計）人: 田光明;王波;王小波
• 申請（專利權）人: 無錫科瑞泰半導體科技有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片切痕檢驗臺，包括機架（1）、芯片檢驗設備（11），其特征在于：所述機架（1）的上端連接有傳輸帶（3），所述機架（1）的上端兩側分別通過支架（4）連接有檢驗臺本體（5），所述檢驗臺本體（5）的左側連接有弧形支撐板（6），所述檢驗臺本體（5）的上端右側還設有滑道（12），所述滑道（12）的下端位于檢驗臺本體（5）的下端連接有第一滑板（13），所述第一滑板（13）的上端等距連接有若干組第一滑輪（14），所述第一滑板（13）的右端向下傾斜設置，所述檢驗臺本體（5）的右端上側連接有第二滑板（7），所述第二滑板（7）的上端等距安裝有若干組第二滑輪（8），所述第二滑板（7）的右側下端連接有第二軟板（9），所述機架（1）的上端一側還連接有側支架（10），所述側支架（10）呈L型設置，所述側支架（10）的下端連接有芯片檢驗設備（11）。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種芯片切痕檢驗臺，其特征在于：所述滑道（12）呈傾斜設置，所述機架（1）的下端四角分別連接有支撐腿（2）。

3.根據(jù)權利要求1所述的一種芯片切痕檢驗臺，其特征在于：所述第一滑板（13）的右端連接有第一軟板（15），所述第一軟板（15）為橡膠軟板。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種芯片切痕檢驗臺，其特征在于：所述弧形支撐板（6）、第一滑板（13）、第二滑板（7）均位于傳輸帶（3）的上方。

5.根據(jù)權利要求1所述的一種芯片切痕檢驗臺，其特征在于：所述弧形支撐板（6）的下端靠近傳輸帶（3）的上端面。

6.根據(jù)權利要求1所述的一種芯片切痕檢驗臺，其特征在于：所述芯片檢驗設備（11）位于檢驗臺本體（5）的上方中部。