[實(shí)用新型]一種石英晶片上料裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201922209569.X | 申請(qǐng)日: | 2019-12-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN210866142U | 公開(公告)日: | 2020-06-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 莫宗均 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 珠海東錦石英科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/677 | 分類號(hào): | H01L21/677 |
| 代理公司: | 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王賢義 |
| 地址: | 519000 廣東省珠海*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 石英 晶片 裝置 | ||
本實(shí)用新型公開了一種石英晶片上料裝置,旨在提供一種使用方便及上料效率高的石英晶片上料裝置。本實(shí)用新型包括電磁振動(dòng)體及圓形振動(dòng)盤,所述圓形振動(dòng)盤配合設(shè)置在所述電磁振動(dòng)體上,所述圓形振動(dòng)盤上配合設(shè)置有螺旋運(yùn)料槽,所述螺旋運(yùn)料槽由內(nèi)到外逐漸變窄,所述螺旋運(yùn)料槽包括上料槽及分料槽,所述分料槽內(nèi)側(cè)端口與所述上料槽的外側(cè)端口相接,所述分料槽的寬度與單片晶片的厚度相適配,所述分料槽的側(cè)端還開有吹氣孔,所述吹氣孔的高度略高于單片晶片的高度。本實(shí)用新型應(yīng)用于上料裝置的技術(shù)領(lǐng)域。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種上料裝置,特別涉及一種石英晶片上料裝置。
背景技術(shù)
石英晶片在電子產(chǎn)業(yè)中應(yīng)用量極大,在生產(chǎn)過程中需要晶片逐一取送進(jìn)行角度測(cè)量和角度范圍分檔。傳統(tǒng)的石英晶片上料裝置所使用的上料傳輸技術(shù),為底抽式的送片裝置,晶片通過人工按照外形尺寸手動(dòng)進(jìn)行整理碼齊,然后疊放在片匣中,固定好蓋子,當(dāng)晶片匣自右向左運(yùn)行時(shí),晶片匣內(nèi)最底層的一片晶片被吸住而從片匣的右側(cè)底端的縫隙被抽出,再由取片裝置取走,這種方式需經(jīng)手工整理,上料效率低。因此目前需要研發(fā)出一種使用方便及上料效率高的石英晶片上料裝置。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供了一種使用方便及上料效率高的石英晶片上料裝置。
本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:本實(shí)用新型包括電磁振動(dòng)體及圓形振動(dòng)盤,所述圓形振動(dòng)盤配合設(shè)置在所述電磁振動(dòng)體上,所述圓形振動(dòng)盤上配合設(shè)置有螺旋運(yùn)料槽,所述螺旋運(yùn)料槽由內(nèi)到外逐漸變窄,所述螺旋運(yùn)料槽包括上料槽及分料槽,所述分料槽內(nèi)側(cè)端口與所述上料槽的外側(cè)端口相接,所述分料槽的寬度與單片晶片的厚度相適配,所述分料槽的側(cè)端還開有吹氣孔,所述吹氣孔的高度略高于單片晶片的高度。
進(jìn)一步,所述圓形振動(dòng)盤上開有與所述螺旋運(yùn)料槽相連通的出料口。
本實(shí)用新型的有益效果是:相對(duì)于傳統(tǒng)技術(shù)存在上料效率低的狀況,在本實(shí)用新型實(shí)施例中,將石英晶片放置在所述圓形振動(dòng)盤的底部,晶片在所述電磁振動(dòng)體及所述圓形振動(dòng)盤的作用下進(jìn)入到所述上料槽中,從低到高,從內(nèi)到外,進(jìn)一步石英晶片從所述上料槽進(jìn)入到所述分料槽中,在此過程中,由于所述分料槽的通道逐漸越窄,最終所述分料槽通道的厚度僅能讓單片石英晶片通過,但此時(shí)仍有若干個(gè)石英晶片上下堆疊通過所述分料槽,進(jìn)一步通過所述吹氣孔進(jìn)行吹氣,除了最底下的一塊石英晶片以外,其余堆疊的石英晶片均被吹到所述圓形振動(dòng)盤的底部,因此,本實(shí)用新型能夠保證對(duì)石英晶片一片片的進(jìn)行上料,且不需要人工干預(yù),能夠提高上料效率,所以,本實(shí)用新型具有使用方便及上料效率高的優(yōu)點(diǎn)。
附圖說明
圖1是本實(shí)用新型的平面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型另一角度的平面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是吹氣孔位于分料槽側(cè)端上的平面示意圖。
具體實(shí)施方式
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





