[實用新型]一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置有效
| 申請號: | 201922160701.2 | 申請日: | 2019-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN211005608U | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 馬毅;黃先偉;宋宇軒;俞越翎;謝續友;吳伊帆;張泰華 | 申請(專利權)人: | 浙江工業大學 |
| 主分類號: | C23C14/56 | 分類號: | C23C14/56;C23C14/35 |
| 代理公司: | 杭州浙科專利事務所(普通合伙) 33213 | 代理人: | 周紅芳 |
| 地址: | 310014 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 磁控濺射 鍍膜 換樣 裝置 | ||
1.一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,包括真空室主腔(101)及真空室副腔(102),所述真空室主腔(101)與真空室副腔(102)之間中間腔室,所述中間腔室分別與真空室主腔(101)與真空室副腔(102)相連通,所述中間腔室內部設有導軌(3),所述導軌(3)上配合設置導軌小車(7),所述導軌小車(7)上設有基片儲備盤(5),所述基片儲備盤(5)上沿其周向設有一組基片架(6),基片架(6)上設有基片(607);所述導軌小車(7)在導軌(3)上水平移動,從而將基片架(6)在真空室主腔(101)與真空室副腔(102)之間進行轉移,進而實現基片(607)的轉移。
2.根據權利要求1所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述真空室主腔(101)內設有基片盤(2),所述基片盤(2)上沿其周向設有基片盤邊緣凸起(202),所述基片架(6)的邊緣處有楔形凸起,且楔形凸起與基片盤邊緣凸起(202)相配合,從而實現基片架(6)的定位。
3.根據權利要求1所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述基片架(6)采用拱門型結構,包括半圓形架體及設置在半圓形架體端部的長方形架體。
4.根據權利要求1所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述基片架(6)端部設有銷孔,所述基片架(6)端部插接設置圓柱體托(606),且圓柱體托(606)通過銷軸插接安裝在銷孔上,實現與基片架(6)的鉸接,所述圓柱體托(606)端部固定設置長方體托(602)。
5.所述根據權利要求4所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述基片儲備盤(5)上設有固定端(603),所述長方體托(602)與固定端(603)插接配合。
6.根據權利要求4所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述圓柱體托(606)左右位置分別設有左彈簧(605)及右彈簧(604),且左彈簧(605)及右彈簧(604)一端連接于圓柱體托(606)上,另一端連接于基片架(6)上。
7.根據權利要求1所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述中間腔室上設有插板閥(103),并通過插板閥(103)將真空室主腔(101)與真空室副腔(102)之間進行分隔。
8.根據權利要求1所述的一種磁控濺射鍍膜儀換樣裝置,其特征在于,所述基片儲備盤(5)底部設有真空電機(4),所述真空電機(4)與基片儲備盤(5)傳動連接。
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