[實(shí)用新型]一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201922137801.3
• 申請(qǐng)日: 2019-12-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN210689822U
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張白;楊來(lái)龍;高洋;周春艷;劉杰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北方民族大學(xué)
• 主分類號(hào): G01J9/02
• 分類號(hào): G01J9/02
• 代理公司: 北京市領(lǐng)專知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11590
• 代理人: 任君;陳益思

1.一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：包括：

待測(cè)激光源，用于發(fā)射待測(cè)激光束；

分光鏡，用于接收待測(cè)激光束，并將待測(cè)激光束反射/透射至反光鏡，以及透射/反射至第二平面反射鏡；

反光鏡，用于接收分光鏡反射/透射的待測(cè)激光束，并將接收到的待測(cè)激光束反射至第一平面反射鏡；

第一平面反射鏡，用于接收反光鏡反射的待測(cè)激光束，并將接收到的待測(cè)激光束反射至透鏡；

第二平面反射鏡，與所述第一平面反射鏡相對(duì)固定連接，用于接收分光鏡透射/反射的待測(cè)激光束，并將接收到的待測(cè)激光束反射至透鏡；

透鏡，用于接收第一平面反射鏡和第二平面反射鏡反射的待測(cè)激光束，并將接收到的待測(cè)激光束透射至光電探測(cè)器；

光電探測(cè)器，用于接收透鏡透射的待測(cè)激光束；

處理器，與光電探測(cè)器電連接，用于檢測(cè)光電探測(cè)器上產(chǎn)生的干涉現(xiàn)象，并計(jì)算待測(cè)激光束的波長(zhǎng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：所述第一平面反射鏡或第二平面反射鏡連接有精密位移裝置，用于帶動(dòng)第一平面反射鏡和第二平面反射鏡在第一平面反射鏡和第二平面反射鏡的水平方向或豎直方向上移動(dòng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：所述精密位移裝置為無(wú)導(dǎo)軌的壓電陶瓷電機(jī)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：所述透鏡為凸透鏡。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：所述光電探測(cè)器設(shè)置于所述凸透鏡的焦點(diǎn)處。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：還包括殼體，所述利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置設(shè)置于殼體內(nèi)，且所述待測(cè)激光源、分光鏡、反光鏡、透鏡、光電探測(cè)器、精密位移裝置分別相對(duì)于殼體固定設(shè)置。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用干涉原理完成激光波長(zhǎng)測(cè)量的裝置，其特征在于：所述第一平面反射鏡包括第一反射面，所述反光鏡反射至第一平面反射鏡的待測(cè)激光束射入所述第一反射面；所述第二平面反射鏡包括第二反射面，所述分光鏡透射/反射至第二平面反射鏡的待測(cè)激光束射入所述第二反射面。