[實用新型]一種BMS從控測試老化系統有效
| 申請號: | 201921950212.0 | 申請日: | 2019-11-13 |
| 公開(公告)號: | CN211044008U | 公開(公告)日: | 2020-07-17 |
| 發明(設計)人: | 龐業海;章春元;劉石海;李標玉;胡磊;梁高華;韋長耀 | 申請(專利權)人: | 深圳市國威科創新能源科技有限公司 |
| 主分類號: | G05B23/02 | 分類號: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 深圳市添源知識產權代理事務所(普通合伙) 44451 | 代理人: | 羅志偉 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 bms 測試 老化 系統 | ||
1.一種BMS從控測試老化系統,其特征在于:主要由上位機、模擬電池、測試板、待測從控板組成,所述模擬電池提供測試所需的信號,具有多個獨立輸出通道;所述測試板串聯接在所述模擬電池與所述待測從控板之間,接收并執行上位機的測試指令,上傳測試數據給上位機;所述上位機通過CAN總線分別與所述模擬電池、測試板、待測從控板連接,負責給模擬電池、測試板、待測從控板發送測試指令,記錄并顯示測試的數據以及測試結果。
2.根據權利要求1所述的BMS從控測試老化系統,其特征在于:所述測試板包括開關電路、AMP運放電路、單片機電路和CAN電路,所述模擬電池的每一個獨立輸出通道分別與一個對應的所述開關電路連接,所述開關電路與所述AMP運放電路連接,所述AMP運放電路與所述單片機電路連接,所述單片機電路與所述CAN電路連接。
3.根據權利要求2所述的BMS從控測試老化系統,其特征在于:所述AMP運放電路包括量程選擇開關S1、量程選擇開關S2、量程選擇開關S3、均衡電流采樣電阻R1、漏電電流采樣電阻R2、漏電電流采樣電阻R3和運放AMP,所述量程選擇開關S1、均衡電流采樣電阻R1串聯在所述運放AMP的反相輸入端和同相輸入端之間,所述量程選擇開關S2、漏電電流采樣電阻R2串聯在所述運放AMP的反相輸入端和同相輸入端之間,所述量程選擇開關S3、漏電電流采樣電阻R3串聯在所述運放AMP的反相輸入端和同相輸入端之間。
4.根據權利要求3所述的BMS從控測試老化系統,其特征在于:所述開關電路包括串聯在所述運放AMP的反相輸入端和同相輸入端之間的一個短接開關和兩個采樣開關,所述短接開關串聯在所述模擬電池的每一個獨立輸出通道上,兩個所述采樣開關分別位于所述短接開關的兩端。
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