[實用新型]一種觸摸屏老化測試系統

有效

• 申請號: 201921949305.1
• 申請日: 2019-11-13
• 公開（公告）號: CN209803254U
• 公開（公告）日: 2019-12-17
• 發明（設計）人: 方雷鋒;范浩雷
• 申請（專利權）人: 江西聯思觸控技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 11201 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 何世磊

本實用新型涉及一種觸摸屏老化測試系統，該系統包括IC芯片、供電接口和示波器，IC芯片包括串聯連接的產品連接接口和功能測試接口，產品連接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，SCL1端口和SDA1端口用于老化測試時與示波器連接，所述功能測試接口與所述產品連接接口的同類端口一一對應連接，功能測試接口功能測試時和一測試設備連接。本實用新型設置產品連接接口和功能測試接口，將老化測試實驗和功能化測試區分開，老化測試時，示波器連接在SCL1端口和SDA1端口確認產品是否正常工作，無需和測試設備進行連接，大大減少測試設備的消耗。

技術領域

本實用新型涉及老化測試技術領域，特別是涉及一種觸摸屏老化測試系統。

背景技術

觸摸屏（touch panel，簡稱TP）為透明產品，通電工作時能完成坐標報點。老化測試的過程為：在TP產品制作好后運行10天以上，輔以在高溫高濕等環境條件，檢測TP產品長時間運行是否功能穩定，該功能測試需要借助電腦，通過電腦軟件顯示來觀察TP產品的功能情況。

現有的TP產品老化測試需要配備測試板連接到電腦的USB接口上，老化測試實驗和功能化測試的過程都連接電腦，需要連續投入大量的電腦和測試板完成幾百片的產品功能老化測試，電腦和測試板長時間工作產生損耗，使投入使用的測試費用特別高。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提出一種觸摸屏老化測試系統，解決現有的觸摸屏老化測試實驗和功能化測試都需連接電腦導致測試費用過高的問題。

本實用新型提出一種觸摸屏老化測試系統，包括供電接口和IC芯片，所述IC芯片包括通過導線串聯連接的產品連接接口和功能測試接口，所述產品連接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，所述GND1端口接地，所述VCC1端口連接所述供電接口，所述SCL1端口和SDA1端口用于老化測試時連接示波器；

所述功能測試接口包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口，所述功能測試接口與所述產品連接接口的同類端口一一對應連接，所述功能測試接口用于功能測試時連接測試設備。

根據本實用新型提出的觸摸屏老化測試系統，具有以下有益效果：本實用新型的觸摸屏老化測試系統設置產品連接接口和功能測試接口，將老化測試實驗和功能化測試區分開，進行老化測試實驗時，示波器連接在SCL1端口和SDA1端口確認產品是否正常工作，無需和測試設備進行連接，當需要確認TP產品的具體功能，測試設備才與功能測試接口連接用于測試具體功能，上述設計節省了測試設備的工作時間及降低了其損耗，大大減少了測試費用。

另外，根據本實用新型提供的觸摸屏老化測試系統，還可以具有如下附加的技術特征：

進一步地，所述IC芯片設有多個，多個所述IC芯片之間并聯連接。

進一步地，所述SCL1端口和SDA1端口分別連接一上拉電阻，兩個所述上拉電阻分別連接所述供電接口。

進一步地，所述測試設備為一電腦。

進一步地，所述功能測試接口上設有頂針，所述頂針頂壓在所述功能測試接口上。

進一步地，所述頂針引出一I2C線路與一測試板相連，所述測試板與所述測試設備相連。

進一步地，所述供電接口包括GND3端口和VCC3端口，所述GND3端口與所述GND1端口連接，所述VCC3端口與所述VCC1端口連接。

本實用新型的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本實用新型的實踐了解到。

附圖說明