[實(shí)用新型]一種觸摸屏老化測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201921949305.1
• 申請日: 2019-11-13
• 公開（公告）號: CN209803254U
• 公開（公告）日: 2019-12-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 方雷鋒;范浩雷
• 申請（專利權(quán)）人: 江西聯(lián)思觸控技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 11201 北京清亦華知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 何世磊

1.一種觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，包括供電接口和IC芯片，所述IC芯片包括通過導(dǎo)線串聯(lián)連接的產(chǎn)品連接接口和功能測試接口，所述產(chǎn)品連接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，所述GND1端口接地，所述VCC1端口連接所述供電接口，所述SCL1端口和SDA1端口用于老化測試時(shí)連接示波器；

所述功能測試接口包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口，所述功能測試接口與所述產(chǎn)品連接接口的同類端口一一對應(yīng)連接，所述功能測試接口用于功能測試時(shí)連接測試設(shè)備。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述IC芯片設(shè)有多個(gè)，多個(gè)所述IC芯片之間并聯(lián)連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述SCL1端口和SDA1端口分別連接一上拉電阻，兩個(gè)所述上拉電阻分別連接所述供電接口。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試設(shè)備為一電腦。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述功能測試接口上設(shè)有頂針，所述頂針頂壓在所述功能測試接口上。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述頂針引出一I2C線路與一測試板相連，所述測試板與所述測試設(shè)備相連。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸摸屏老化測試系統(tǒng)，其特征在于，所述供電接口包括GND3端口和VCC3端口，所述GND3端口與所述GND1端口連接，所述VCC3端口與所述VCC1端口連接。