[實用新型]一種芯片的抗壓強度性能測試裝置

有效

• 申請號: 201921912609.0
• 申請日: 2019-11-07
• 公開（公告）號: CN211013852U
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: 曹靖;林葉
• 申請（專利權）人: 江蘇華創微系統有限公司
• 主分類號: G01N3/18
• 分類號: G01N3/18;G01N3/04
• 代理公司: 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616
• 代理人: 李朦

1.一種芯片的抗壓強度性能測試裝置，其特征在于：包括測試座(1)，所述測試座(1)的上側壁開設有插口(2)，所述測試座(1)的前側壁開設有測試腔體(3)，且測試腔體(3)與插口(2)連通，所述測試腔體(3)的側壁對稱開設有滑槽(4)，所述滑槽(4)的內壁滑動連接有梯形夾持塊(5)，兩個所述梯形夾持塊(5)的內側壁對稱開設有放置槽(6)，所述插口(2)的內壁滑動連接有擠壓滑塊(7)，所述擠壓滑塊(7)的下側壁固定安裝有弧形凸起塊(8)，所述弧形凸起塊(8)的內壁嵌入安裝有電熱絲(9)。

2.根據權利要求1所述的一種芯片的抗壓強度性能測試裝置，其特征在于：所述滑槽(4)的外側壁開設有通孔(10)，所述測試座(1)的外側壁對稱固定安裝有電機(11)，所述電機(11)的輸出端固定安裝有螺紋桿(12)，且螺紋桿(12)置于通孔(10)內，所述梯形夾持塊(5)的外側壁開設有螺紋孔(13)，且螺紋孔(13)的內壁螺接螺紋桿(12)。

3.根據權利要求1所述的一種芯片的抗壓強度性能測試裝置，其特征在于：所述測試腔體(3)的后側壁固定安裝有底板(14)，所述底板(14)的上側壁固定安裝有緩沖墊。

4.根據權利要求1所述的一種芯片的抗壓強度性能測試裝置，其特征在于：所述測試座(1)的上側壁對稱固定安裝有支桿(15)，所述支桿(15)的上側壁固定安裝有安裝座(16)，所述安裝座(16)的下側壁嵌入安裝有推桿電機(17)，所述推桿電機(17)的輸出端固定安裝有方形塊(18)，所述擠壓滑塊(7)的上側壁開設有方形槽(19)，且方形塊(18)滑動連接于方形槽(19)，所述擠壓滑塊(7)與安裝座(16)的下側壁間固定安裝有彈簧(20)。

5.根據權利要求4所述的一種芯片的抗壓強度性能測試裝置，其特征在于：所述方形槽(19)的下側壁嵌入安裝有觸點開關(21)，且觸點開關(21)與電熱絲(9)串聯外界電源。