[實用新型]一種COC芯片光譜測試裝置有效
| 申請號： | 201921848426.7 | 申請日： | 2019-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN211905578U | 公開（公告）日： | 2020-11-10 |
| 發明（設計）人： | 張振峰;楊國良;邱德明 | 申請（專利權）人： | 武漢盛為芯科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01N21/31 |
| 代理公司： | 武漢紅觀專利代理事務所(普通合伙) 42247 | 代理人： | 李季 |
| 地址： | 430000 湖北省武漢市東湖新技術開發*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 coc 芯片 光譜 測試 裝置 | ||
1.一種COC芯片光譜測試裝置，其特征在于：包括溫控測試臺(1)和光譜儀(10)，所述溫控測試臺(1)頂部設置有熱沉(2)，所述熱沉(2)頂部設置有工裝(3)，所述工裝(3)頂部設置有芯片(4)，所述工裝(3)一側設置有焊盤G(5)，所述熱沉(2)頂部靠近所述焊盤G(5)一側設置有焊盤S(6)，所述焊盤G(5)和焊盤S(6)一側均設置有電動推桿(12)，所述電動推桿(12)上設置有射頻探針(7)，所述電動推桿(12)遠離所述焊盤G(5)一側設置有激勵電源盒(14)，所述溫控測試臺(1)頂部一角處設置有操作面板(13)，所述熱沉(2)一側設置有透鏡(11)，所述溫控測試臺(1)一側壁上設置有光端機(8)，所述光端機(8)一側壁上設置有光纖(9)，所述光纖(9)一端設置有所述光譜儀(10)。
2.根據權利要求1所述的一種COC芯片光譜測試裝置，其特征在于：所述熱沉(2)與所述溫控測試臺(1)通過螺栓連接，所述工裝(3)與所述熱沉(2)電連接。
3.根據權利要求1所述的一種COC芯片光譜測試裝置，其特征在于：所述芯片(4)與所述工裝(3)電連接，所述焊盤G(5)和所述焊盤S(6)均與所述熱沉(2)通過螺栓連接。
4.根據權利要求1所述的一種COC芯片光譜測試裝置，其特征在于：所述電動推桿(12)與所述熱沉(2)通過螺栓連接，所述射頻探針(7)與所述電動推桿(12)通過卡槽連接，所述激勵電源盒(14)與所述熱沉(2)通過螺栓連接。
5.根據權利要求1所述的一種COC芯片光譜測試裝置，其特征在于：射頻探針(7)與所述激勵電源盒(14)通過導線連接，所述操作面板(13)與所述溫控測試臺(1)通過螺栓連接，所述透鏡(11)與所述溫控測試臺(1)通過螺栓連接。
6.根據權利要求1所述的一種COC芯片光譜測試裝置，其特征在于：所述光端機(8)與所述溫控測試臺(1)通過螺栓連接，所述光纖(9)與光端機(8)插接，所述光譜儀(10)與所述光纖(9)通過卡槽連接。
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