[實用新型]一種雙晶探頭的焦聚的測量試塊

有效

• 申請號: 201921836814.3
• 申請日: 2019-10-29
• 公開（公告）號: CN211669136U
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 陳昌華;張利;張洪;陳慶勇;徐正茂;董政;劉曉磊;哈曜;王姣;陳新華
• 申請（專利權）人: 南京迪威爾高端制造股份有限公司
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30
• 代理公司: 南京蘇創專利代理事務所(普通合伙) 32273
• 代理人: 張學彪

本實用新型公開了一種雙晶探頭的焦聚的測量試塊，包括測試結構(1)，所述測試結構(1)的上側與下側在垂直上側的方向上的距離為所述測試結構(1)的測量深度，從所述測試結構(1)一端到另一端所述測試結構(1)的測量深度逐漸增加。本實用新型的雙晶探頭的焦聚的測量試塊結構簡單，可以對中板、鍛件、鑄件等的近距離缺陷檢測提供精確靈敏度、聲場標定工作。利用本實用新型的對比試塊標定的探頭參數，滿足了近距離聲場準確校準目的，更有利于鍛件的近表面超聲波缺陷定位探傷。

技術領域

本實用新型屬于雙晶探頭的焦聚的精度定位領域，具體涉及一種雙晶探頭的焦聚的測量試塊。

背景技術

超聲波探傷雙晶探頭的標定工作，目前主要采用水浸方法，對水中鋼球的標距進行精確測量，它的作用主要為中板、鍛件、鑄件等的近距離缺陷檢測提供精確靈敏度、聲場標定工作。

探頭殼體內裝有兩個晶片的探頭，統稱之為雙晶探頭，即分割式探頭。由兩個縱波晶片組合的探頭為縱波雙晶探頭，又稱雙晶直探頭；由兩個橫波晶片組成的探頭為橫波雙晶探頭，又稱雙晶斜探頭。這兩種雙晶探頭中，焦聚的準確測量是非常重要的，雙晶探頭的兩個晶片都有一定的傾斜角度，如何使發射聲束與接收聲束會合產生需要的相交點，形成棱形的區域，是探傷行業需要準確測量的。

因此，需要一種新的對比試塊來解決上述問題。

實用新型內容

實用新型目的：本實用新型針對現有技術中的對比試塊均無法滿足焦聚的標定問題，提供一種可以對中板、鍛件、鑄件等的近距離缺陷檢測提供精確靈敏度、聲場標定工作。

技術方案：為解決上述技術問題，本實用新型的雙晶探頭的焦聚的測量試塊采用如下技術方案：

一種雙晶探頭的焦聚的測量試塊，包括測試結構(1)，所述測試結構(1)的上側與下側在垂直上側的方向上的距離為所述測試結構(1)的測量深度，從所述測試結構(1)一端到另一端所述測試結構(1)的測量深度逐漸增加。

優選的，所述測試結構(1)的兩端均設置有緩沖段。

優選的，所述緩沖段的長度均大于等于10mm。

優選的，所述測試結構(1)上側為平面，下側為斜平面。

優選的，所述測試結構(1)兩側之間的距離為所述測試結構(1)的厚度，所述測試結構(1)的厚度大于等于25mm。

優選的，所述測試結構(1)的上側下方設置有測量深度刻度(3)，所述測量深度刻度(3)與此位置的測量深度的值相對應。

優選的，所述測量深度刻度(3)通過下式得到；

y＝0.2x+3

式中，y為測量深度刻度，x為測量深度刻度的位置距離所述測試結構(1)的一端的距離。

優選的，還包括支撐結構(2)，所述支撐結構(2)設置在所述測試結構(1)的一端。

優選的，所述測試結構(1)的另一端的下方設置有平面支撐點。

有益效果：本實用新型的雙晶探頭的焦聚的測量試塊結構簡單，可以對中板、鍛件、鑄件等的近距離缺陷檢測提供精確靈敏度、聲場標定工作。利用本實用新型的對比試塊標定的探頭參數，滿足了近距離聲場準確校準目的，更有利于鍛件的近表面超聲波缺陷定位探傷。

附圖說明

圖1為本實用新型雙晶探頭的焦聚的測量試塊的主視圖；

圖2為本實用新型雙晶探頭的焦聚的測量試塊的左視圖；

圖3為本實用新型雙晶探頭的焦聚的測量試塊的使用示意圖。

具體實施方式