[實用新型]一種干涉式激光波長測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921807017.2 | 申請日: | 2019-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN210571045U | 公開(公告)日: | 2020-05-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 潘俊濤;張巍巍;張鵬輝;肖巖 | 申請(專利權(quán))人: | 北方民族大學(xué) |
| 主分類號: | G01J9/02 | 分類號: | G01J9/02 |
| 代理公司: | 北京市領(lǐng)專知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11590 | 代理人: | 張玲;王瑩瑩 |
| 地址: | 750021 寧夏回族*** | 國省代碼: | 寧夏;64 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 干涉 激光 波長 測量 裝置 | ||
1.一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:包括:
已知激光光學(xué)組件,用于發(fā)射已知激光束并實現(xiàn)干涉測量,得到參考的干涉數(shù)據(jù);
待測激光光學(xué)組件,用于對待測激光束實現(xiàn)干涉測量,并參照已知激光光學(xué)組件得到的干涉數(shù)據(jù),計算得到待測激光束的波長;
第一直角反射鏡、與第一直角反射鏡平行設(shè)置的第二直角反射鏡,且第二直角反射鏡的反射結(jié)構(gòu)與第一直角反射鏡的反射結(jié)構(gòu)相對,所述已知激光光學(xué)組件發(fā)射的已知激光束和待測激光光學(xué)組件發(fā)射的待測激光束在第一直角反射鏡和第二直角反射鏡之間進(jìn)行多次反射。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:
所述已知激光光學(xué)組件包括:
已知激光源,用于發(fā)射已知激光束;
第一分光鏡,用于接收已知激光源發(fā)射的已知激光源,并將接收到的已知激光束透射至第一聚光透鏡,以及反射至第一直角反射鏡;
第一聚光透鏡,用于接收第一分光鏡透射的已知激光束,以及第二直角反射鏡反射的已知激光束,并將接收到的已知激光束透射至第一光電探測器;
第一光電探測器,用于接收第一聚光透鏡透射的已知激光束;
第一處理器,用于檢測第一光電探測器上產(chǎn)生的干涉現(xiàn)象,并得到參考干涉數(shù)據(jù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:
所述待測激光光學(xué)組件包括:
第二分光鏡,用于接收待測激光束,并將接收到的待測激光束透射至第二聚光透鏡,以及反射至第一直角反射鏡;
第二聚光透鏡,用于接收第二分光鏡透射的待測激光束,以及第二直角反射鏡反射的待測激光束,并將接收到的待測激光束透射至第二光電探測器;
第二光電探測器,用于接收第二聚光透鏡透射的待測激光束;
第二處理器,用于檢測第二光電探測器上產(chǎn)生的干涉現(xiàn)象,并根據(jù)已知激光光學(xué)組件得到的干涉數(shù)據(jù),計算得到待測激光束的波長。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:
所述一種干涉式激光波長測量裝置設(shè)置于殼體內(nèi),且所述已知激光光學(xué)組件、待測激光光學(xué)組件、第一直角反射鏡均相對于殼體固定,所述第二直角反射鏡在其豎直方向上移動。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:所述殼體內(nèi)設(shè)置有黑色吸光材料。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:所述第二直角反射鏡連接有精密位移裝置,所述精密位移裝置帶動第二直角反射鏡在其豎直方向上移動。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種干涉式激光波長測量裝置,其特征在于:所述第一直角反射鏡包括N組反射結(jié)構(gòu),第二直角反射鏡包括M組反射結(jié)構(gòu),且第一直角反射鏡和第二直角反射鏡所包含的反射結(jié)構(gòu)相同。
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