[實(shí)用新型]一種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921743780.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211086504U | 公開(公告)日: | 2020-07-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何海洋;胡健峰;彭強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫市查奧微電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R1/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214000 江蘇省無錫市新吳區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 管芯 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
本實(shí)用新型屬于晶圓檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其為一種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),包括主機(jī),所述主機(jī)將工作信號(hào)通過所述信號(hào)發(fā)射器A發(fā)射到所述信號(hào)接收器A和所述信號(hào)接收器C上,所述信號(hào)接收器A將工作信號(hào)傳遞到所述測(cè)試機(jī)A上,所述信號(hào)接收器C將信號(hào)傳遞到測(cè)試機(jī)B上,所述測(cè)試機(jī)A和所述測(cè)試機(jī)B開始工作,所述操作機(jī)A中的所述編碼器會(huì)將多管芯的位置編碼傳遞到測(cè)試機(jī)A,所述測(cè)試機(jī)A將工作信號(hào)傳遞到操作機(jī)A上,所述測(cè)試機(jī)B將工作信號(hào)傳遞到所述操作機(jī)B上,所述測(cè)試機(jī)A會(huì)將接受到的編碼經(jīng)處理器發(fā)送到解碼器上,解碼后的位置信息會(huì)經(jīng)處理器分析并下發(fā)相應(yīng)測(cè)試動(dòng)作命令,本實(shí)用新型具有一機(jī)多控的特點(diǎn),充分提高了操作者的辦事效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及晶圓檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前,現(xiàn)有的多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),多為單人單機(jī)操作,易造成人力資源的浪費(fèi),無法充分提高人力辦事效率。
現(xiàn)有的晶圓測(cè)試系統(tǒng)存在以下不足:
1、浪費(fèi)人力資源,個(gè)人辦事效率較低,且須操作者實(shí)時(shí)觀察,勞動(dòng)強(qiáng)度大。
2、現(xiàn)有的多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng)多為電纜連接,造成車間電纜布線長(zhǎng)、占用空間大的特點(diǎn),同時(shí)當(dāng)電纜內(nèi)部損壞時(shí),維修不便。
實(shí)用新型內(nèi)容
(一)解決的技術(shù)問題
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實(shí)用新型提供了一種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),解決了單人單機(jī)工作的問題。
(二)技術(shù)方案
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:一種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),包括主機(jī),所述主機(jī)將工作信號(hào)通過信號(hào)發(fā)射器A發(fā)射到信號(hào)接收器A 和信號(hào)接收器C上,所述信號(hào)接收器A將工作信號(hào)傳遞到測(cè)試機(jī)A上,所述信號(hào)接收器C將信號(hào)傳遞到測(cè)試機(jī)B上,所述測(cè)試機(jī)A和所述測(cè)試機(jī)B開始工作,所述測(cè)試機(jī)A通過電纜與信號(hào)發(fā)射器B連接,所述測(cè)試機(jī)B通過所述電纜與信號(hào)發(fā)射器C連接,所述主機(jī)通過所述電纜與信號(hào)接收器B連接。
作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述測(cè)試機(jī)A將工作信號(hào)傳遞到操作機(jī)A上,所述測(cè)試機(jī)B將工作信號(hào)傳遞到操作機(jī)B上。
作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,操作機(jī)A中的編碼器會(huì)將多管芯的位置編碼傳遞到測(cè)試機(jī)A。
作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述測(cè)試機(jī)A會(huì)將接受到的編碼經(jīng)處理器發(fā)送到解碼器上,解碼后的位置信息會(huì)經(jīng)處理器分析并下發(fā)相應(yīng)測(cè)試動(dòng)作命令。
作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述測(cè)試機(jī)A與操作機(jī)A之間通過電纜連接通信,且操作機(jī)A中安裝有針卡。
作為本實(shí)用新型的一種優(yōu)選技術(shù)方案,所述主機(jī)與所述測(cè)試機(jī)A和所述測(cè)試機(jī)B之間通過無線連接。
(三)有益效果
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型提供了一種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),具備以下有益效果:
1、該種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),通過主機(jī)與測(cè)試機(jī)A和測(cè)試機(jī)B之間的無線連接,實(shí)現(xiàn)了遠(yuǎn)程監(jiān)控的效果,同時(shí)節(jié)省了大量的電纜和電纜占用的空間。
2、該種多管芯晶圓測(cè)試系統(tǒng),通過測(cè)試機(jī)A和操作機(jī)A及測(cè)試機(jī)B操作機(jī)B之間的電纜通信,避免了操作時(shí)發(fā)生信號(hào)丟失的問題。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型整體流程示意圖;
圖2為本實(shí)用新型操作機(jī)A程序流程示意圖;
圖3為本實(shí)用新型測(cè)試機(jī)A程序流程示意圖;
圖4為本實(shí)用新型系統(tǒng)測(cè)試流程示意圖。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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