[實(shí)用新型]一種聲發(fā)射信號(hào)處理裝置及光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921684282.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211179665U | 公開(公告)日: | 2020-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬文靜;張軍偉;徐振源;向勇;陳良明;胡東霞;袁曉東;袁強(qiáng);周麗丹;房奇;李可欣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號(hào): | G01N29/44 | 分類號(hào): | G01N29/44;G01N29/14;G01N29/04;G01N29/24 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張萌 |
| 地址: | 621000 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 聲發(fā) 信號(hào) 處理 裝置 光學(xué) 元件 損傷 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N聲發(fā)射信號(hào)處理裝置及光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),通過(guò)將傳感器設(shè)置到待測(cè)光學(xué)元件上,并將獲取到的待測(cè)光學(xué)元件所產(chǎn)生的聲發(fā)射信號(hào)傳輸給聲發(fā)射信號(hào)處理裝置;聲發(fā)射信號(hào)處理裝置進(jìn)行信號(hào)放大、濾波、轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)、提取出聲發(fā)射信號(hào)的特征參數(shù)后,將特征參數(shù)輸送給計(jì)算機(jī)系統(tǒng),以供計(jì)算機(jī)系統(tǒng)基于特征參數(shù)確定出待測(cè)光學(xué)元件的損傷類型和損傷程度。相較于相關(guān)技術(shù)而言,聲發(fā)射信號(hào)檢測(cè)具有更高的準(zhǔn)確性,檢測(cè)結(jié)果可以直接由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)確定出來(lái),不需要用戶進(jìn)行人工觀察,檢測(cè)效率更高。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及光學(xué)元件損傷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種聲發(fā)射信號(hào)處理裝置及光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
目前,光學(xué)元件損傷的在線檢測(cè)裝置大多采用暗場(chǎng)成像技術(shù),即利用主動(dòng)式光源照明被檢的光學(xué)元件,通過(guò)人工觀察采集到的圖像的方式,從而判斷出光學(xué)元件是否存在損傷。如果光學(xué)元件存在損傷,則損傷點(diǎn)會(huì)產(chǎn)生散射光,用成像光學(xué)系統(tǒng)接收損傷點(diǎn)產(chǎn)生的后向散射光,就可以在暗背景下觀察到明亮的損傷圖像。如果被檢測(cè)光學(xué)元件無(wú)損傷,則視場(chǎng)總是暗場(chǎng)。但該在線檢測(cè)裝置存在圖像質(zhì)量差(導(dǎo)致檢測(cè)準(zhǔn)確度差),檢測(cè)效率低等缺點(diǎn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本申請(qǐng)實(shí)施例的目的在于提供一種聲發(fā)射信號(hào)處理裝置及光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),用以解決相關(guān)技術(shù)檢測(cè)準(zhǔn)確度差、檢測(cè)效率低下的問題。
本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種聲發(fā)射信號(hào)處理裝置,包括:前置放大器、模擬濾波器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)字信號(hào)處理器;
所述前置放大器的輸入端與設(shè)置于待測(cè)光學(xué)元件上的傳感器的輸出端連接,用于接收所述傳感器傳來(lái)的所述待測(cè)光學(xué)元件所產(chǎn)生的聲發(fā)射信號(hào)并進(jìn)行放大處理;
所述模擬濾波器的輸入端與所述前置放大器的輸出端連接,用于接收經(jīng)由所述前置放大器放大處理后的聲發(fā)射信號(hào),并對(duì)所述前置放大器放大處理后的聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行濾波處理,以保留所需頻段的模擬信號(hào);
所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端與所述模擬濾波器的輸出端連接,用于接收經(jīng)由所述模擬濾波器濾波處理后得到的模擬信號(hào),并將所述濾波處理后得到的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào);
所述數(shù)字信號(hào)處理器的輸入端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出端連接,所述數(shù)字信號(hào)處理器的輸出端與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)連接,以對(duì)所述數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,提取出所述聲發(fā)射信號(hào)的特征參數(shù),并將所述特征參數(shù)輸送給所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng),以供所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)基于所述特征參數(shù)確定出所述待測(cè)光學(xué)元件的損傷類型和損傷程度。
在上述實(shí)現(xiàn)過(guò)程中,聲發(fā)射信號(hào)處理裝置包括前置放大器、模擬濾波器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)字信號(hào)處理器。通過(guò)前置放大器對(duì)待測(cè)光學(xué)元件運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行放大,然后由模擬濾波器進(jìn)行濾波,僅保留需要的頻段的電信號(hào),再由模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行信號(hào)轉(zhuǎn)換以使得數(shù)字信號(hào)處理器得以從轉(zhuǎn)換后的數(shù)字信號(hào)中提取出聲發(fā)射信號(hào)的特征參數(shù)給到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行處理,從而確定出待測(cè)光學(xué)元件的損傷類型和損傷程度。這樣,利用光學(xué)元件在存在物理?yè)p傷時(shí),運(yùn)行過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生聲發(fā)射信號(hào)的特點(diǎn),采用聲發(fā)射信號(hào)處理裝置對(duì)聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行采集、處理,從而使得計(jì)算機(jī)系統(tǒng)得以確定出待測(cè)光學(xué)元件的損傷類型及損傷程度。相較于相關(guān)技術(shù)而言,聲發(fā)射信號(hào)檢測(cè)具有更高的準(zhǔn)確性,檢測(cè)結(jié)果可以直接由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)確定出來(lái),不需要用戶進(jìn)行人工觀察,檢測(cè)效率更高。
進(jìn)一步地,所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置還包括供電電池;所述供電電池分別與所述前置放大器、所述模擬濾波器、所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及所述數(shù)字信號(hào)處理器連接,以為所述前置放大器、所述模擬濾波器、所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及所述數(shù)字信號(hào)處理器供電。
在上述實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)中,通過(guò)供電電池來(lái)為前置放大器、模擬濾波器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及數(shù)字信號(hào)處理器連接,使得聲發(fā)射信號(hào)處理裝置可獨(dú)立運(yùn)行,不依賴于外接電源的限制,提升了聲發(fā)射信號(hào)處理裝置的可用性。
進(jìn)一步地,所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置還包括存儲(chǔ)器;所述存儲(chǔ)器與所述數(shù)字信號(hào)處理器連接,以接收并保存所述數(shù)字信號(hào)處理器處理得到的所述特征參數(shù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心,未經(jīng)中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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