[實(shí)用新型]一種聲發(fā)射信號(hào)處理裝置及光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921684282.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN211179665U | 公開(公告)日: | 2020-08-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬文靜;張軍偉;徐振源;向勇;陳良明;胡東霞;袁曉東;袁強(qiáng);周麗丹;房奇;李可欣 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號(hào): | G01N29/44 | 分類號(hào): | G01N29/44;G01N29/14;G01N29/04;G01N29/24 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 張萌 |
| 地址: | 621000 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 聲發(fā) 信號(hào) 處理 裝置 光學(xué) 元件 損傷 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種聲發(fā)射信號(hào)處理裝置,其特征在于,包括:前置放大器、模擬濾波器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)字信號(hào)處理器;
所述前置放大器的輸入端與設(shè)置于待測(cè)光學(xué)元件上的傳感器的輸出端連接,用于接收所述傳感器傳來的所述待測(cè)光學(xué)元件所產(chǎn)生的聲發(fā)射信號(hào)并進(jìn)行放大處理;
所述模擬濾波器的輸入端與所述前置放大器的輸出端連接,用于接收經(jīng)由所述前置放大器放大處理后的聲發(fā)射信號(hào),并對(duì)所述前置放大器放大處理后的聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行濾波處理,以保留所需頻段的模擬信號(hào);
所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸入端與所述模擬濾波器的輸出端連接,用于接收經(jīng)由所述模擬濾波器濾波處理后得到的模擬信號(hào),并將所述濾波處理后得到的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào);
所述數(shù)字信號(hào)處理器的輸入端與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器的輸出端連接,所述數(shù)字信號(hào)處理器的輸出端與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)連接,以對(duì)所述數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,提取出所述聲發(fā)射信號(hào)的特征參數(shù),并將所述特征參數(shù)輸送給所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng),以供所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)基于所述特征參數(shù)確定出所述待測(cè)光學(xué)元件的損傷類型和損傷程度。
2.如權(quán)利要求1所述的聲發(fā)射信號(hào)處理裝置,其特征在于,所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置還包括供電電池;
所述供電電池分別與所述前置放大器、所述模擬濾波器、所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及所述數(shù)字信號(hào)處理器連接,以為所述前置放大器、所述模擬濾波器、所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及所述數(shù)字信號(hào)處理器供電。
3.如權(quán)利要求1或2所述的聲發(fā)射信號(hào)處理裝置,其特征在于,所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置還包括存儲(chǔ)器;
所述存儲(chǔ)器與所述數(shù)字信號(hào)處理器連接,以接收并保存所述數(shù)字信號(hào)處理器處理得到的所述特征參數(shù)。
4.如權(quán)利要求3所述的聲發(fā)射信號(hào)處理裝置,其特征在于,所述存儲(chǔ)器包括只讀存儲(chǔ)器和隨機(jī)存取存儲(chǔ)器;所述只讀存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)所述數(shù)字信號(hào)處理器處理得到的所述特征參數(shù);所述隨機(jī)存取存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)所述數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)行過程中產(chǎn)生的臨時(shí)數(shù)據(jù)。
5.一種光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:傳感器,如權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的聲發(fā)射信號(hào)處理裝置,以及計(jì)算機(jī)系統(tǒng);
所述傳感器可分離的設(shè)置于待測(cè)光學(xué)元件上,并與所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置連接,以獲取所述待測(cè)光學(xué)元件所產(chǎn)生的聲發(fā)射信號(hào),并傳輸給所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置;
所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置與所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)連接,以對(duì)所述傳感器傳來的所述聲發(fā)射信號(hào)進(jìn)行處理,提取出所述聲發(fā)射信號(hào)的特征參數(shù),并將所述特征參數(shù)輸送給所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng);
所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)用于基于所述特征參數(shù)確定出所述待測(cè)光學(xué)元件的損傷類型和損傷程度。
6.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述待測(cè)光學(xué)元件為激光器。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述傳感器為光纖傳感器。
8.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述傳感器與所述待測(cè)光學(xué)元件的接觸面上涂有聲耦合劑。
9.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述聲發(fā)射信號(hào)處理裝置與所述計(jì)算機(jī)系統(tǒng)通過通用串行總線連接。
10.如權(quán)利要求5-9任一項(xiàng)所述的光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)元件損傷檢測(cè)系統(tǒng)包括至少4個(gè)傳感器;所述至少4個(gè)傳感器分布于所述待測(cè)光學(xué)元件的不同位置。
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