[實用新型]一種光度檢測裝置

有效

• 申請號: 201921644698.5
• 申請日: 2019-09-29
• 公開（公告）號: CN210346908U
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 孫慶
• 申請（專利權）人: 東莞市凱萱自動化科技有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張子寬

本實用新型公開了一種光度檢測裝置，用于提高測試的精準度。該光度檢測裝置包括支撐架、積分球、測試治具、第一線性模組、和第二線性模組。積分球設置在支撐架上，積分球包括腔體和采樣口。測試治具上設有安裝位，安裝位用于放置芯片。測試治具和第一線性模組連接，第一線性模組用于在第一方向上調節測試治具的位置。第二線性模組用于在第二方向上調節第一線性模組的位置。第一方向和第二方向垂直且平行于水平面。當測試芯片發射的光的光度時，采樣口朝向芯片，以使芯片發射的光通過采樣口進入腔體。這樣，通過第一線性模組和第二線性模組在平行于水平面的方向上對測試治具的位置進行調節，實現對芯片發出的光的光度的檢測，提高測試的精準度。

技術領域

本實用新型涉及測試設備技術領域，尤其涉及一種光度檢測裝置。

背景技術

芯片也稱為集成電路(Integrated Circuit，IC)，是一種高價值和高精度的零部件，需要對其進行嚴格的產品檢測。例如對發光的芯片需要進行光度檢測。

現有的光度檢測裝置，在芯片供電發光后，使用光度測試器獲取芯片發出的光，然后，對獲取的光進行分析，得到測試結果。但是，這樣的裝置，因光度測試器和芯片的相對位置不方便進行控制，導致測試結果誤差較大。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種光度檢測裝置，用于提高測試的精準度。

為達此目的，本實用新型采用以下技術方案：

一種光度檢測裝置，包括：

支撐架；

積分球，所述積分球設置在所述支撐架上，所述積分球包括腔體和采樣口，所述腔體和所述采樣口連通，所述積分球用于進行光度檢測；

測試治具，所述測試治具上設有安裝位，所述安裝位用于放置待測試的芯片；

第一線性模組，所述測試治具和所述第一線性模組連接，所述第一線性模組用于在第一方向上調節所述測試治具的位置；

第二線性模組，所述第一線性模組設置在所述第二線性模組上，所述第二線性模組用于在第二方向上調節所述第一線性模組的位置；

所述第一方向和所述第二方向垂直，所述第一方向和所述第二方向平行于水平面；

當測試所述芯片發射的光的光度時，所述采樣口朝向所述芯片，以使所述芯片發射的光通過所述采樣口進入所述腔體。

可選地，所述光度檢測裝置還包括第一轉動裝置，所述第一轉動裝置設置在所述第一線性模組上，所述測試治具和所述第一轉動裝置連接，所述第一轉動裝置用于控制所述測試治具繞第一軸線轉動；

所述第一軸線平行于水平面。

可選地，所述光度檢測裝置還包括第二轉動裝置；

所述第二轉動裝置設置在所述第一轉動裝置上，所述測試治具設置在所述第二轉動裝置上，所述第二轉動裝置用于控制所述測試治具繞第二軸線轉動，所述第二軸線垂直于水平面；

所述第一轉動裝置還用于控制所述第二轉動裝置繞所述第一軸線轉動。

可選地，所述第一線性模組包括第一電機、第一滑臺、第一導軌和第一滾珠絲桿；

所述第一滾珠絲桿和所述第一電機的輸出軸連接，所述第一滾珠絲桿貫穿所述第一滑臺，所述第一滾珠絲桿和所述第一滑臺螺紋連接，所述第一滑臺和所述第一導軌滑動連接；

所述測試治具和所述第一滑臺連接。

可選地，所述第二線性模組包括第二電機、第二滑臺、第二導軌和第二滾珠絲桿；